特許
J-GLOBAL ID：200903006075695385

実装外観検査方法及び実装外観検査装置

発明者：
東 昇

東 昇 について

, 
友保 和彦

友保 和彦 について

, 
永井 大介

永井 大介 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (3件)： 岩橋 文雄 ,  坂口 智康 ,  内藤 浩樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-405384
公開番号（公開出願番号）：特開2005-164454
出願日： 2003年12月04日
公開日（公表日）： 2005年06月23日
要約：
【課題】プリント基板上の不良部品の部品種別の判定を、部品種別に基づく付加情報を追加して表示して正確に行う。【解決手段】検査すべき電子部品の部品種別情報中の形状データを表示部805にて2次元表示して被検体となる電子部品を選択決定し、決定された検査すべき電子部品データをプリント基板が表示される表示部805上で配置し、プリント基板上のグランドの位置高さである基準高さを決定し、選択決定された電子部品の部品種別情報に対応して付加形状情報記憶部812に記憶されている描画情報をグランドデータからの高さデータを基準高さにして部品形状と共に配置して表示部805にて表示する。【選択図】 図8
請求項（抜粋）：
プリント基板上に配置された電子部品や半田やクリーム半田の内、1つ以上を画像データ として計測して検査する実装外観検査方法において、 プリント基板上に配置された電子部品の部品形状データと部品位置データと部品種別情 報が記憶されたティーチングデータをティーチングデータ記憶部より取得し、 その取得されたティーチングデータの部品種別情報に対応した付加形状情報を付加形状 情報記憶部から取得し、 計測される画像データが記憶される計測データ記憶部より前記プリント基板の計測され た画像データを取得し、 当該画像データに基づいて、前記付加形状情報の表示サイズを決定し、 前記決定される表示サイズを含む付加形状情報と前記部品形状データを、前記部品位置 データに基づいて表示することを特徴とする実装外観検査方法。
IPC (4件)：
G01B11/24 ,  G01N21/956 ,  H05K3/34 ,  H05K13/08
FI (4件)：
G01B11/24 K ,  G01N21/956 B ,  H05K3/34 512B ,  H05K13/08 U
Fターム (42件)：
2F065AA03 ,  2F065AA17 ,  2F065AA24 ,  2F065AA31 ,  2F065AA49 ,  2F065AA53 ,  2F065AA56 ,  2F065AA58 ,  2F065AA59 ,  2F065BB02 ,  2F065BB05 ,  2F065CC01 ,  2F065CC26 ,  2F065CC28 ,  2F065DD04 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF44 ,  2F065GG04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ16 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065RR05 ,  2F065RR06 ,  2F065RR09 ,  2F065SS03 ,  2F065SS13 ,  2F065TT08 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051CA04 ,  2G051EA14 ,  2G051EB09 ,  5E319AC01 ,  5E319CD04 ,  5E319CD26 ,  5E319GG09 ,  5E319GG15
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (6件)
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