スペクトロメータ機器を特徴付けし、かつ機器較差を補正する校正モデルを提供する方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：沢田雅男
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-528786
公開番号（公開出願番号）：特表2004-526938
出願日： 2001年08月16日
公開日（公表日）： 2004年09月02日
要約：

【解決手段】スペクトロメータ機器は、スペクトルを、事前に定義されたクラスタに分類することにより特徴付けられる。このスペクトルはクラスタにマッピングされ、分類は、抽出されたスペクトル特徴と事前に定められたクラスタの一つとの類似性に基づいて行われる。各クラスタに関する校正モデルが、機器較差を補正するために提供される。校正モデルは、マスタ校正をスレーブ校正に変換すること、或いは、各クラスタに関する別個の校正を計算することにより提供される。校正転送の簡略化された方法では、クラスタ間で転送された校正が二つのクラスタ間の差異のみをモデル化するように、クラスタを互いにマッピングし、モデルの複雑性を大幅に低減する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

機器較差に従ってスペクトロメータ機器を特徴付ける方法であって、少なくとも一つのスペクトロメータ機器から標準スペクトル測定値を提供するステップと、抽出したスペクトル特徴に基づいて、当該スペクトル測定値を既定クラスタに分類するステップと、当該既定クラスタのそれぞれに校正モデルを提供し、当該校正モデルが当該機器較差を補正するステップとを含む方法。

IPC (1件)：

G01J3/02

FI (1件)：

G01J3/02 C

Fターム (16件)：

2G020AA03 , 2G020BA02 , 2G020CB42 , 2G020CD04 , 2G020CD11 , 2G020CD22 , 2G020CD38 , 2G020CD39 , 2G059AA01 , 2G059BB12 , 2G059CC16 , 2G059HH01 , 2G059HH08 , 2G059JJ01 , 2G059KK01 , 2G059MM14

引用特許：

審査官引用 (2件)

分光分析計の波長補正方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-371447 出願人：株式会社堀場製作所
特表平6-508440

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