特許

J-GLOBAL ID：200903092714881997

分光分析計の波長補正方法

発明者： 小島 淳二 ,  河原 博文 ,  横山 一成
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-371447
公開番号（公開出願番号）：特開平11-344378
出願日： 1998年12月25日
公開日（公表日）： 1999年12月14日
要約：

【要約】【課題】 短時間でしかも確実に分光分析計の波長補正を行うことができる分光分析計の波長補正方法を提供すること。【解決手段】 測定によって得られた吸光度スペクトルAと基準となる吸光度スペクトルSとの波長のずれ量Δλを求め、この波長のずれ量Δλだけシフトさせた曲線を求め、この曲線における波長間をカーブフィッティング法を用いて補間することにより波長補正を行うようにした。

請求項（抜粋）：

測定によって得られた吸光度スペクトルと基準となる吸光度スペクトルとの波長のずれ量を求め、この波長のずれ量だけシフトさせた曲線を求め、この曲線における波長間をカーブフィッティング法を用いて補間することにより波長補正を行うことを特徴とする分光分析計の波長補正方法。

IPC (2件)：

G01J 3/28 ,  G01N 21/27

FI (2件)：

G01J 3/28 ,  G01N 21/27 F

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 分光分析計における多変量解析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-335952   出願人：株式会社堀場製作所
• 特開平2-051030
  
• 測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-147650   出願人：キヤノン株式会社