特許
J-GLOBAL ID:200903006312874702

透過率測定サンプル及びその作製方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-215096
公開番号(公開出願番号):特開平8-075649
出願日: 1994年09月08日
公開日(公表日): 1996年03月22日
要約:
【要約】【目的】 光学素材の内部透過率の測定において、透過率測定サンプルに規格を設け、サンプルの作製方法を提供する。【構成】 向かい合う二面が研磨された光学素材の透過率測定サンプルにおいて、研磨された面の表面粗さがrms=10A ゚以下とすることにより、分光光学計の光源強度が低下してくる300nm以下の短波長域の内部透過率の測定において、高精度な透過率測定が可能となる。
請求項(抜粋):
向かい合う二面が研磨された光学素材の透過率測定サンプルにおいて、研磨された面の表面粗さがrms=10A ゚以下であることを特徴とする透過率測定サンプル。
IPC (2件):
G01N 21/59 ,  G01N 1/28
引用特許:
審査官引用 (11件)
  • 特開昭64-040267
  • 特開平1-126245
  • ガラス体の表面処理方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-281674   出願人:古河電気工業株式会社
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