特許
J-GLOBAL ID:200903006366927828
二次電池の出力劣化演算装置および方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
永井 冬紀
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-194254
公開番号(公開出願番号):特開2003-018756
出願日: 2001年06月27日
公開日(公表日): 2003年01月17日
要約:
【要約】【課題】二次電池の出力劣化演算における演算精度を向上させる。【解決手段】二次電池の出力劣化演算装置は、二次電池15の開放電圧V0と、一定電力にて二次電池15を充電する時の電圧Viとを検出して、それぞれの電圧値に対応する内部抵抗Ri0とRc1とを算出する。この二次電池15の初期状態時の内部抵抗Ri0と劣化演算時の内部抵抗Rc1との比を算出することにより、二次電池15の出力劣化を演算する。これにより、電流検出時の誤差や高負荷時の演算誤差、回帰直線算出時の誤差などの影響を受けることなく、二次電池15の出力劣化演算の演算精度を向上させることができる。
請求項(抜粋):
二次電池の劣化時電池出力と初期電池出力との出力比から電池出力劣化を算出する二次電池の出力劣化演算方法において、前記二次電池の電圧のみを検出して前記出力比を演算することを特徴とする二次電池の出力劣化演算方法。
IPC (5件):
H02J 7/00 ZHV
, B60L 3/00
, G01R 31/36
, H01M 10/48
, H02J 7/10
FI (6件):
H02J 7/00 ZHV Y
, B60L 3/00 S
, G01R 31/36 A
, H01M 10/48 P
, H02J 7/10 B
, H02J 7/10 F
Fターム (29件):
2G016CA03
, 2G016CB02
, 2G016CB03
, 2G016CD00
, 5G003AA07
, 5G003CA11
, 5G003CA16
, 5G003EA08
, 5G003FA06
, 5G003GC05
, 5H030AA03
, 5H030AA04
, 5H030AS20
, 5H030FF43
, 5H030FF44
, 5H115PA08
, 5H115PA14
, 5H115PG04
, 5H115PI16
, 5H115PO02
, 5H115PU01
, 5H115PU21
, 5H115PV09
, 5H115QN03
, 5H115SE06
, 5H115TI05
, 5H115TI10
, 5H115TR19
, 5H115TU04
引用特許:
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