光パルス試験器

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西村教光 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-251894
公開番号（公開出願番号）：特開2001-074596
出願日： 1999年09月06日
公開日（公表日）： 2001年03月23日
要約：

【要約】【課題】通信が行われている現用回線に対する各種測定を未然に防止でき、通信回線に対する影響及び測定への影響をいずれも防止して測定作業を安全に開始できること。【解決手段】光源2から測定光を前記光ファイバに出射させ、光ファイバからの反射光が分岐手段3で分岐され受光素子4で検知される。受光素子4の受光レベルは、A/Dコンバータ6でA/D変換後に処理手段8に出力され光ファイバの各種測定を行なう。処理手段8は、光源2からの測定光を出射する前に受光素子4で検知された受光レベルが予め定めた設定値以上の場合には、現用回線であると判断して測定光の出射を禁止状態に維持する。

請求項（抜粋）：

敷設された光ファイバの一端に設けられ、該光ファイバに測定光を出射させ光ファイバからの反射光の状態に基づき、該光ファイバの各種特性を測定する光パルス試験器において、前記測定光を前記光ファイバに出射する光源(2)と、前記光ファイバからの反射光を受光し、該反射光の受光レベルを検知して出力する受光素子(4)と、前記光源からの測定光を出射する前に前記受光素子で検知された受光レベルが予め定めた設定値以上の場合には、測定光の出射を禁止状態にする処理手段(8)と、を備えたことを特徴とする光パルス試験器。

IPC (2件)：

G01M 11/00 , H04B 10/00

FI (2件)：

G01M 11/00 R , H04B 9/00 Z

Fターム (7件)：

2G086CC03 , 5K002BA04 , 5K002BA13 , 5K002CA08 , 5K002EA06 , 5K002EA07 , 5K002FA01

引用特許：

審査官引用 (3件)

光線路の試験方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-327378 出願人：株式会社フジクラ
特開平2-010241
特開平2-010241

前のページに戻る