特許

J-GLOBAL ID：200903015550997668

光線路の試験方法

発明者： 片寄 浩一 ,  佐久間 健 ,  佐々木 研 ,  青山 好則 ,  野村 義和
出願人/特許権者： 株式会社フジクラ
代理人 (1件)： 志賀 正武
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-327378
公開番号（公開出願番号）：特開平10-170393
出願日： 1996年12月06日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
要約：

【要約】【課題】 光パワーメータを使用しない低コストの光線路の試験方法が求められていた。【解決手段】 心線選択装置2にて試験光線路8を目的の通信光線路9に接続した後、光パルス試験器20をオンにして試験光線路8および通信光線路9内の伝送光の有無を観測する第1の工程により、光パルス試験器20にて光パワーメータを使用すること無く伝送光の有無を観測することができる、低コストの光線路の試験方法を提供する。

請求項（抜粋）：

試験光を試験光線路(8、11、11a)に入射して該試験光線路と接続した通信光線路(9)に入射し、該試験光が試験光線路あるいは通信光線路で反射した反射光を観測して試験光線路および通信光線路の異常を検出する光パルス試験器(20)と、複数の通信用光線路に対して前記試験光線路を選択的に切替可能に接続する光スイッチ(6)とを備えた光線路の試験方法であって、心線選択装置(2)にて試験光線路を目的の通信光線路に接続した後、光パルス試験器をオンにして通信光線路内の伝送光を試験光線路を介して光パルス試験器に導いて観測する第1の工程と、第1の工程で光パルス試験器での受光強度を予め設定した基準値と比較して伝送光の有無を判定する第2の工程と、前記第2の工程で伝送光が確認されない場合に、光パルス試験器から試験光を試験光線路に入射する第3の工程とを備えることを特徴とする光線路の試験方法。

IPC (2件)：

G01M 11/00 ,  G02B 6/24

FI (2件)：

G01M 11/00 R ,  G02B 6/24

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開平2-010241
  
• 特開平2-010241
  
• 特開平2-010241
  
• 特開平2-001632
  
• 光線路試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-039872   出願人：日本電信電話株式会社