特許
J-GLOBAL ID：200903006538023004
ガス分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-175351
公開番号（公開出願番号）：特開2001-004517
出願日： 1999年06月22日
公開日（公表日）： 2001年01月12日
要約：
【要約】【課題】 センサ素子の製造、経時劣化、などに伴う特性バランスのばらつきや変化を最小限に押さえるとともに、温・湿度の影響を相殺したガス分析装置を提供する。【解決手段】 少なくとも2つの同一特性のガスセンサと、これらのガスセンサに同一のサンプルガスをそれぞれ異なった流速で供給するガス供給手段と、それぞれのセンサのサンプルガスに対する応答速度(時定数)を測定する手段を備え、前記少なくとも2つのセンサの応答速度(時定数)の差からガスの成分を特定する。
請求項（抜粋）：
少なくとも2つの同一特性のガスセンサと、これらのガスセンサに同一のサンプルガスをそれぞれ異なった流速で供給するガス供給手段と、それぞれのセンサのサンプルガスに対する応答速度(時定数)を測定する手段を備え、前記少なくとも2つのセンサの応答速度(時定数)の差からガスの成分を特定するようにしたことを特徴とするガス分析装置。
引用特許：
引用文献：
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