特許

J-GLOBAL ID：200903006541880171

質量分析方法

発明者： 佐藤 貴弥
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
代理人 (2件)： 井島 藤治 ,  鮫島 信重
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-242179
公開番号（公開出願番号）：特開2006-059739
出願日： 2004年08月23日
公開日（公表日）： 2006年03月02日
要約：

【課題】 本発明はイオントラップ型質量分析方法に関し、多重周回型の質量範囲の狭さを解決し、イオントラップで捕獲したイオンを無駄にすることなく高質量分解能で質量測定をすることができるイオントラップ型質量分析方法を提供することを目的としている。【解決手段】 イオンを捕獲、排出するイオントラップ12と、該イオントラップ12から排出されるイオンをパルス的に加速させる機構と、複数のセクター電場により形成される閉じた軌道を複数回周回させることを特徴とする多重周回型飛行時間型質量分析計と、イオンを検出する検出器14と、で構成される質量分析計を用い、イオントラップ12から排出して多重周回型TOFMSに導入する質量範囲を、多重周回型TOFMSにおいて追い越しの起こらない質量範囲内にするように構成する。 【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

イオンを捕獲、排出するイオントラップと、 該イオントラップから排出されるイオンをパルス的に加速させる機構と、 複数のセクター電場により形成される閉じた軌道を複数回周回させることを特徴とする多重周回型飛行時間型質量分析計と、 イオンを検出する検出器と、 で構成される質量分析計を用い、イオントラップから排出して多重周回型TOFMSに導入する質量範囲を、多重周回型TOFMSにおいて追い越しの起こらない質量範囲内にすることを特徴とする質量分析方法。

IPC (3件)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/42

FI (3件)：

H01J49/40 ,  G01N27/62 K ,  H01J49/42

Fターム (2件)：

5C038JJ06 ,  5C038JJ07

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 飛行時間型質量分析計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-300257   出願人：日本電子株式会社
• 特開昭59-134546
  

審査官引用 (2件)

• 飛行時間型質量分析計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-300257   出願人：日本電子株式会社
• 特開昭59-134546