特許
J-GLOBAL ID：200903006782060728

赤外線非破壊検査方法およびその装置

発明者：
阪上 ▲隆▼英

阪上 ▲隆▼英 について

, 
正田 昌宏

正田 昌宏 について


出願人/特許権者：
株式会社ニコン

株式会社ニコン について


代理人 (1件)： 古谷 史旺 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-087917
公開番号（公開出願番号）：特開平9-281058
出願日： 1996年04月10日
公開日（公表日）： 1997年10月31日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、機械部品,構造物等の傷,空洞,組成ムラ等を赤外線を用いて非破壊検査する赤外線非破壊検査方法およびその装置に関し、被検査物体の内部等を容易,確実に非破壊検査することを目的とする。【解決手段】 被検査物体を加熱手段または冷却手段により加熱または冷却し、加熱または冷却後の被検査物体の赤外線輻射量を測定手段により測定することにより被検査物体を非破壊検査する赤外線非破壊検査方法において、被検査物体からの赤外線を光ファイバーを用いた検出用ファイバー手段を介して測定手段に導くように構成する。また、加熱手段を、赤外線を発生する赤外線発生手段と、この赤外線発生手段からの赤外線を被検査物体に導く光ファイバーを用いた加熱用ファイバー手段とから構成する。
請求項（抜粋）：
被検査物体を加熱手段または冷却手段により加熱または冷却し、加熱または冷却後の前記被検査物体の赤外線輻射量を測定手段により測定することにより前記被検査物体を非破壊検査する赤外線非破壊検査方法において、前記被検査物体からの赤外線を光ファイバーを用いた検出用ファイバー手段を介して前記測定手段に導くことを特徴とする赤外線非破壊検査方法。
IPC (2件)：
G01N 21/88 ,  G01N 21/35
FI (2件)：
G01N 21/88 Z ,  G01N 21/35 Z
引用特許：
審査官引用 (21件)
  • 特開平3-009245
  • 特開平4-352118
  • 建築物の外壁剥離診断方法及びその装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-201718   出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立ビルシステムサービス
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引用文献：
審査官引用 (2件)
  • 建築設備と配管工事, 19871201, '87 12月号, p.87〜94
  • 建築設備と配管工事, 19871201, '87 12月号, p.87〜94

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