特許
J-GLOBAL ID：200903006816360440
空間色三角測量を使用したオプトエレクトロニクスシステム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 正武 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-525767
公開番号（公開出願番号）：特表2001-507808
出願日： 1997年11月06日
公開日（公表日）： 2001年06月12日
要約：
【要約】本発明によれば、オプトエレクトロニクスシステム(10)は、空間色三角測量を使用して、対象物の表面デジタル化を行う。オプトエレクトロニクスシステム(10)は、被測定対象物(16)を収容している観測空間(30)を照射するための投光サブシステム(12)と、対象物(16)による反射光を収集し、対象物の深さ方向色コード化を使用して、対象物(16)の3次元形状の認識を行うための観測サブシステム(14)と、を具備している。より詳細には、リレー光学系(22)が使用されて、観測スリット(24)上に多色光源(20)がイメージ化される。その後、スリットからのイメージは、分散素子(26)を通過する。被測定対象物は、観測空間(30)内において、カット面(x、z)に沿って、単色イメージの連続体でもって照射される。カット面(32)と被測定対象物(16)の表面との交差によって形成された色コード(x、λ)化表示は、イメージ分光器の観測スリット上においてイイージ化される。リレーレンズ(50)は、このイメージを観測スリット(42)上に投影するために使用される。分光器(40)のイメージ面内に配置されたグレースケールイメージ化アレイ(46)は、色コード化表示を認識し、イメージプロセッサ(40)は、分光的解析を使用して、色コード化表示を、対象物(16)の3次元形状の部分へと変換する。
請求項（抜粋）：
空間色三角測量を使用して対象物の表面デジタル化を行うためのオプトエレクトロニクスシステムであって、 観測空間内にわたって被測定対象物を照射するための投光サブシステムと; 前記観測空間内の前記対象物による反射光を収集し、前記対象物の深さ方向色コード化を使用して、前記対象物の3次元形状の認識を行うための、観測サブシステムと;を具備することを特徴とするオプトエレクトロニクスシステム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/24 A
, G01B 11/30 Z
