特許
J-GLOBAL ID:200903007202075517

半導体基板の温度制御のための方法及びその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中村 稔 (外9名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-270823
公開番号(公開出願番号):特開2001-118835
出願日: 2000年08月03日
公開日(公表日): 2001年04月27日
要約:
【要約】【課題】 ウェーハを迅速に所定の温度に持って来て、その温度を維持し、ウェーハ支持台のウェーハ支持表面全体に渡り均一な温度を供給する。【解決手段】 半導体ウェーハ処理装置、より詳細には半導体基板支持台は基板支持、アイソレータ、及び第1及び第2熱伝達板を有し、半導体ウェーハの直径を横切って制御可能で一定の温度分布を供給する。前記基板支持内に埋め込まれた1以上の電極で前記ウェーハを加熱すると共に前記第1及び第2熱伝達板を通過する流体で前記ウェーハを冷却することにより、台に置かれた半導体ウェーハは所定温度で均一に維持される。
請求項(抜粋):
製品素材の支持及び温度制御のための装置であって、基板支持と、該基板支持の下方に配置されたアイソレータと、該アイソレータの下方に配置された外部熱伝達板と、を備えていることを特徴とする装置。
IPC (2件):
H01L 21/3065 ,  H01L 21/205
FI (2件):
H01L 21/205 ,  H01L 21/302 B
引用特許:
出願人引用 (7件)
  • 静電チャック付セラミックスヒーター
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-152015   出願人:信越化学工業株式会社
  • サセプター
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-149573   出願人:日本碍子株式会社
  • 枚葉式の熱処理装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-210973   出願人:東京エレクトロン株式会社
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審査官引用 (8件)
  • 枚葉式の熱処理装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-210973   出願人:東京エレクトロン株式会社
  • 特開平1-225121
  • 処理装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-185518   出願人:東京エレクトロン株式会社
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