特許
J-GLOBAL ID：200903007329232611
粉粒体処理装置の粒子測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
筒井 大和 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-171285
公開番号（公開出願番号）：特開2000-002645
出願日： 1998年06月18日
公開日（公表日）： 2000年01月07日
要約：
【要約】【課題】 粒子の分散化が難しい粉粒体処理装置においても信頼性の高い粒子形状情報をリアルタイムで取得する。【解決手段】 造粒容器に対し出入自在に設けられた粉粒体取出管と、粉粒体取出管内に導入された粉粒体を捕捉する粘着フィルムと、粉粒体取出管内を減圧吸引して粉粒体を粘着フィルムに導びく吸引手段と、粉粒体を撮像する撮像手段と、粉粒体の映像情報を処理する情報処理手段とを有してなる粒子測定装置を用いる。情報処理手段は、映像情報に基づき粉粒体粒子に外接する外接四角形Sを想定し、この四角形の相隣る二辺である短辺Mと長辺Nの寸法比を算出する。そして、この比が所定の基準値以上の場合その粉粒体粒子を粒子形状情報を取得するための処理対象から除外する。
請求項（抜粋）：
一方の端部が粉粒体処理装置の処理容器内に配設された粉粒体取出管と、前記粉粒体取出管内の他方の端部側に配設され前記処理容器から前記粉粒体取出管内に導入された粉粒体を捕捉する粘着フィルムと、前記捕捉された粉粒体を撮像する撮像手段と、前記撮像手段により得られた粉粒体の映像情報を処理する情報処理手段とを有してなる粒子測定装置を用いた粉粒体処理装置の粒子測定方法であって、前記情報処理手段は、前記映像情報に基づき前記粘着フィルムに捕捉された粉粒体粒子についてそれに外接する四角形を想定し、前記四角形の相隣る二辺の寸法比を算出し、前記比が所定の基準値以上の場合その粉粒体粒子を処理対象から除外することを特徴とする粉粒体処理装置の粒子測定方法。
IPC (3件)：
G01N 15/02
, B01J 2/14
, G01N 1/36
G01N 15/02 B
, B01J 2/14
, G01N 1/28 R
