特許

J-GLOBAL ID：200903007393498765

質量分析装置用データ収集システム

発明者： 田村 淳
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-107445
公開番号（公開出願番号）：特開2000-299083
出願日： 1999年04月15日
公開日（公表日）： 2000年10月24日
要約：

【要約】【課題】データ収集システムのメモリー装置を大型化することなく、また、強力なCPUをデータ収集システムに内蔵させることなく、系統的なノイズを除去して、高品質なマススペクトルを得ることのできる質量分析装置用データ収集システムを提供する。【解決手段】質量分析装置から出力されるデータを収集してデータ処理を行なう質量分析装置用データ収集システムにおいて、所定の周期分のノイズを取得して、このノイズをデータから繰り返し差し引くことによって、データから周期性を有するノイズを除去するようにした。

請求項（抜粋）：

質量分析装置から出力されるデータを収集してデータ処理を行なう質量分析装置用データ収集システムにおいて、所定の周期分のノイズを取得して、このノイズをデータから繰り返し差し引くことによって、データから周期性を有するノイズを除去することを特徴とする質量分析装置用データ収集システム。

IPC (3件)：

H01J 49/26 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/40

FI (4件)：

H01J 49/26 ,  G01N 27/62 K ,  G01N 27/62 D ,  H01J 49/40

Fターム (1件)：

5C038HH18

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-359023   出願人：株式会社島津製作所