診断プロセス支援方法とそのためのプログラム

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：木内光春
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-323778
公開番号（公開出願番号）：特開2005-092466
出願日： 2003年09月16日
公開日（公表日）： 2005年04月07日
要約：

【課題】最も判定精度がよくなる「変数(特徴量)の採用個数」、「しきい値」の組み合わせを含む最適条件を決定する作業を容易に効率よく行うことができるように支援する方法およびプログラムを提供する。【解決手段】単位空間の学習(S401)、被解析データのマハラノビス距離計算(S402)の後、各変数の有効順位を決定する(S403)。2次元プロット処理(S410)においては、変数を有効順に2個採用し(S411)、しきい値を小から大に漸増して、誤判定率の分布を計算する(S412)。一軸にしきい値、他軸に変数(特徴量)の採用個数を取る2次元グラフの画面に誤判定率をプロットする(S413)。変数の採用個数を1個ずつ増加しながら(S415)しきい値を漸増して誤判定率の分布を計算し(S412)誤判定率をプロットする(S413)、一連の作業を繰り返すことで2次元図がプロットされる。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

コンピュータを利用して、正常空間となる多変量間の相関を単位空間データとして学習し、被解析データと単位空間データとのマハラノビス距離を計算して、多変量のうち診断に有効な特徴量を取捨し、過誤を最小にするしきい値を決定する診断プロセスを支援する方法において、前記多変量から、診断に有効な特徴量を取捨する際に、各特徴量を採用することで向上するSN比の値であるゲイン(G)を、各特徴量の計測コスト(C)と計測リスク(R)を示す各指標値のいずれか一方もしくは両方の値の関数に変換するゲイン修正ステップ、を含むことを特徴とする診断プロセス支援方法。

IPC (3件)：

G05B23/02 , G05B11/32 , G05B13/02

FI (3件)：

G05B23/02 302T , G05B11/32 A , G05B13/02 L

Fターム (16件)：

5H004GA22 , 5H004GA23 , 5H004GB15 , 5H004HA16 , 5H004HB14 , 5H004JA05 , 5H004JA23 , 5H004KC26 , 5H004KD61 , 5H223AA05 , 5H223BB08 , 5H223DD01 , 5H223DD03 , 5H223DD09 , 5H223EE06 , 5H223FF06

引用特許：

出願人引用 (1件)

評価システム
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-333178 出願人：株式会社オーケン

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