特許

J-GLOBAL ID：200903007528330754

光断層画像化装置

発明者： 黒岩 果林
出願人/特許権者： 富士フイルム株式会社
代理人 (2件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-268416
公開番号（公開出願番号）：特開2008-089349
出願日： 2006年09月29日
公開日（公表日）： 2008年04月17日
要約：

【課題】測定光と参照光の干渉光の周波数解析を行うことにより断層画像を取得する光コヒーレンストモグラフィー計測において、所望のタイミングで、自動的に測定光と参照光の光路長差を調整する。【解決手段】測定対象Sへ測定光L1を照射する位置を微少に移動する毎に、光源ユニット210から補助光Lbを射出し、光分割手段3で補助測定光Lb1と補助参照光Lb2とに分割し、合波手段4で反射膜19で反射した補助反射光Lb3と補助参照光Lb2を合波する。光検出器247は補助干渉光Lb4の光強度を検出する。リアルタイム光路長調整部253は、補助干渉光Lb4の光強度に基づいて、基準点である光プローブ230の窓入射点16aにおいて、測定光L1+反射光L3の光路長と参照光L2の光路長とが一致するように、光路長変更手段220の反射ミラー22を移動し、参照光Lの光路長を調整する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光を射出する光源ユニットと、 該光源ユニットから射出された前記光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、 該光分割手段により分割された前記測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを合波する合波手段と、 該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光である第1の干渉光を検出する第1の干渉光検出手段と、 該干渉光検出手段により検出された前記第1の干渉光を周波数解析することにより前記測定対象の断層情報を取得する断層情報取得手段とを有する光断層画像化装置において、 補助光を射出する補助光源ユニットを備え、 前記光分割手段が、前記補助光源ユニットから射出された前記補助光を、前記測定光と同光路へ分割される補助測定光と、前記参照光の光路との光路長差が規定されている光路へ導光される補助参照光とに分割するものであり、 前記合波手段が、前記光分割手段により分割された前記補助測定光の反射光である補助反射光と前記補助参照光とを合波するものであり、 該合波手段により合波された前記補助反射光と前記補助参照光との干渉光である第2の干渉光を検出する第2の干渉光検出手段と、 該第2の干渉光検出手段の検出結果に基づいて、前記測定光、前記反射光または前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段を備えることを特徴とする光断層画像化装置。

IPC (3件)：

G01N 21/17 ,  A61B 10/00 ,  A61B 1/00

FI (3件)：

G01N21/17 625 ,  A61B10/00 E ,  A61B1/00 300D

Fターム (23件)：

2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG05 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059NN02 ,  2G059PP04 ,  4C061HH51

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 光イメージング装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-374702   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 米国特許第5565986号明細書
  
• 線条体クリップ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-251869   出願人：古河電気工業株式会社