特許
J-GLOBAL ID：200903007662179604
信頼性解析装置、信頼性解析方法及び信頼性解析プログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (7件)：
三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 川又 澄雄
, 中村 友之
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-005988
公開番号（公開出願番号）：特開2005-202515
出願日： 2004年01月13日
公開日（公表日）： 2005年07月28日
要約：
【課題】多目的設計における信頼性解析の中で、複数の設計マージン(信頼性指標)や各不良モード間の相関度合を指標として多目的設計最適化を行うことや、複数の設計マージンや各不良モード間の相関度合と各設計変数との間に潜む因果・相関関係を明らかにすることを支援する信頼性解析方法を提供する。 【解決手段】信頼解析方法は、m個のスペックに対応したm個の不良モードに対する信頼性指標βi(i=1〜m)を算出するステップ(S103)と、各スペック限界曲面の重なり度合を用いて、各不良モードの相関度合 rij(i,j=1〜m,i>j)を算出するステップ(S103)と、信頼性指標と不良モード間の相関度合をパラメータとした設計最適化を行うステップ(S104)と、信頼性指標と不良モード間の相関度合をパラメータとした構造方程式モデリングによって因果・相関関係の分析を行うステップ(S105)とを含む。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
複数の設計項目に関わる設計ソリューションの評価を行う信頼性解析装置であって、
前記複数の設計項目について、設計変数に関する応答曲面近似式を作成する応答曲面作成モジュールと、
許容領域と非許容領域の界面あるいは不良が発生する領域と発生しない領域の界面であるスペック限界曲面を、前記応答曲面近似式を利用して、m個のスペック毎に設計空間上で表現する限界曲面表現モジュールと、
前記m個のスペックに対応したm個の不良モードに対する信頼性指標βi(i=1〜m)を算出する信頼性指標算出モジュールと、
前記各スペック限界曲面の重なり度合を用いて、前記各不良モードの相関度合 rij(i,j=1〜m,i>j)を算出する相関度合算出モジュールと、
前記信頼性指標βiと前記相関度合 rijとを指標として、多目的設計最適化を行う設計最適化モジュールと
を備えることを特徴とする信頼性解析装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G06F17/50 604A
, G06F17/50 612G
, G06F17/15
5B046BA01
, 5B046JA01
, 5B046JA07
, 5B056BB23
, 5B056BB51
