特許
J-GLOBAL ID:200903007831961520

外観検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 金山 聡
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-142609
公開番号(公開出願番号):特開2001-325587
出願日: 2000年05月16日
公開日(公表日): 2001年11月22日
要約:
【要約】【課題】撮像から検査結果を出力するまでの時間を短縮することができる外観検査装置を提供する。【解決手段】1単位の周期に対応する撮像画像を2つ以上の部分撮像画像に分割し、読み込みが完了した部分撮像画像から順番に処理するように外観検査装置。
請求項(抜粋):
1単位の周期に対応する撮像画像を2つ以上の部分撮像画像に分割し、読み込みが完了した部分撮像画像から順番に処理することを特徴とする外観検査装置。
IPC (3件):
G06T 1/00 310 ,  G01N 21/88 ,  G01N 21/89
FI (3件):
G06T 1/00 310 A ,  G01N 21/88 J ,  G01N 21/89 S
Fターム (26件):
2G051AA34 ,  2G051AA90 ,  2G051AB11 ,  2G051AC21 ,  2G051BA01 ,  2G051BA20 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CB05 ,  2G051CD04 ,  2G051CD07 ,  2G051DA06 ,  2G051DA13 ,  2G051DA15 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EA20 ,  2G051EB01 ,  2G051ED04 ,  5B057AA11 ,  5B057BA02 ,  5B057CC02 ,  5B057CD12 ,  5B057CH05 ,  5B057DA03
引用特許:
審査官引用 (13件)
  • 画像入力方法及び装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-142479   出願人:大日本印刷株式会社
  • 外観検査方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-136271   出願人:富士ファコム制御株式会社, 富士電機株式会社
  • 撮像画像幾何歪み検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-252256   出願人:大日本印刷株式会社
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