特許
J-GLOBAL ID:200903087870589313

外観検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 松崎 清
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-136271
公開番号(公開出願番号):特開平9-318555
出願日: 1996年05月30日
公開日(公表日): 1997年12月12日
要約:
【要約】【課題】 検査精度の向上と領域設定の簡単化を図る。【解決手段】 カメラ11により撮像した対象物15の画像を、検査装置13で画像処理してその良否検査を行なう場合に、例えば図1(ロ)のような検査領域21を設定したとすると、従来のように検査領域21の全体の辞書を用いて検査するのではなく、図1(ハ)または(ニ)のように複数の小領域31〜34,41〜44ごとに辞書を作成して検査することで、検査精度を向上させる。
請求項(抜粋):
検査対象を画像処理してその良否を検査するに当たり、基準となる検査対象画像を含む所定検査領域を任意の大きさの矩形小領域ごとに分割し、分割された各小領域についてパターンマッチングのための辞書を作成し、各小領域ごとに辞書と検査対象画像とのパターンマッチングにより検査を行なうことを特徴とする外観検査方法。
IPC (3件):
G01N 21/88 ,  G01B 11/24 ,  G06T 7/00
FI (4件):
G01N 21/88 J ,  G01B 11/24 F ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/70 455 A
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (2件)

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