特許
J-GLOBAL ID:200903007965074333

半導体装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-364120
公開番号(公開出願番号):特開2001-203366
出願日: 1994年12月12日
公開日(公表日): 2001年07月27日
要約:
【要約】【課題】 GOLD構造の薄膜トランジスタの提供【解決手段】 絶縁基板上の半導体層、ゲート絶縁膜、導電性材料から成るサイドウォールを有するゲート電極、低濃度N型不純物領域、ソース領域及びドレイン領域から構成される薄膜トランジスタ。
請求項(抜粋):
絶縁基板上の半導体層と、前記半導体層上のゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上の導電性被膜から成るサイドウォールを有するゲート電極とを有し、前記ゲート絶縁膜を介して前記サイドウォールと重なる半導体層にはソース領域及びドレイン領域のN型不純物よりも低濃度のN型不純物が含まれること、を特徴とする薄膜トランジスタ
IPC (4件):
H01L 29/786 ,  H01L 21/3065 ,  H01L 29/78 ,  H01L 21/336
FI (6件):
H01L 29/78 617 J ,  H01L 21/302 F ,  H01L 29/78 301 G ,  H01L 29/78 301 P ,  H01L 29/78 301 L ,  H01L 29/78 616 A
引用特許:
審査官引用 (6件)
  • エッチング方法およびエッチング装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-332069   出願人:株式会社半導体エネルギー研究所
  • 特開平3-106023
  • 特開昭64-081322
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