特許

J-GLOBAL ID：200903007995763281

半自動はんだ検査装置

発明者： 小林 茂樹
出願人/特許権者： 小林 茂樹
代理人 (1件)： 中村 茂信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-187252
公開番号（公開出願番号）：特開2002-005852
出願日： 2000年06月22日
公開日（公表日）： 2002年01月09日
要約：

【要約】【課題】 従来のはんだ検査装置の短所であった不満足な認識性能と相対的な高価格を解消するための装置を提供する。【解決手段】 半自動はんだ検査装置は、プリント配線板への部品のはんだ付検査を、自動検査を実行するオートモードと検査箇所画像に対して目視再検査を実行するレビューモードの2モードに分けて行うものであり、まずオートモードにおいて自動検査手段により自動検査を実行して不良評価箇所である再検箇所アドレスをメモリに記憶し、次にメモリに記憶した再検箇所をレビューモードにおいて撮像手段が再撮像して表示手段に画像表示し、再検箇所マーカを重畳表示し、この画像に対して目視再検査を行い、その結果を入力手段から入力することによって、プリント配線板への部品のはんだ付検査を完結する。

請求項（抜粋）：

プリント配線板への部品のはんだ付検査を、自動検査を実行するオートモードと検査箇所画像に対して目視再検査を実行するレビューモードの2モードに分けて行う半自動はんだ検査装置であって、撮像手段を有し、プリント配線板上の部品搭載箇所の撮像によってはんだ付状態を自動検査する自動検査手段と、オートモードとレビューモードとを選択するモード選択手段と、オートモードとレビューモードの検査データを統合する検査データ統合手段と、撮像手段で得た画像を表示する表示手段と、レビューモードでの検査結果を入力する入力手段と、検査データを記憶する記憶手段とを備え、まずオートモードにおいて自動検査手段により自動検査を実行して不良評価箇所である再検箇所アドレスを記憶手段に記憶し、次に記憶手段に記憶した再検箇所をレビューモードにおいて撮像手段が再撮像して表示手段に画像表示し、再検箇所マーカを重畳表示し、この画像に対して目視再検査を行い、その結果を入力手段から入力することによって、プリント配線板への部品のはんだ付検査を完結することを特徴とする半自動はんだ検査装置。

IPC (5件)：

G01N 21/956 ,  G01B 11/24 ,  G06T 1/00 305 ,  H05K 3/34 512 ,  H05K 13/08

FI (5件)：

G01N 21/956 B ,  G06T 1/00 305 A ,  H05K 3/34 512 B ,  H05K 13/08 Q ,  G01B 11/24 K

Fターム (45件)：

2F065AA49 ,  2F065AA51 ,  2F065CC26 ,  2F065EE05 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ12 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL05 ,  2F065LL06 ,  2F065LL13 ,  2F065PP13 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ36 ,  2F065RR00 ,  2F065SS02 ,  2F065SS04 ,  2F065SS06 ,  2F065SS13 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051AC02 ,  2G051CA04 ,  2G051CC09 ,  2G051CD07 ,  2G051DA01 ,  2G051DA08 ,  2G051DA13 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051ED04 ,  2G051FA01 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057DA03 ,  5B057DA04 ,  5B057DA16 ,  5E319AA03 ,  5E319AB01 ,  5E319AC01 ,  5E319CC22 ,  5E319CD53

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 物品外観検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-076400   出願人：ジェネシス・テクノロジー株式会社
• 欠陥検出用顕微鏡装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-016218   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 基板検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-352546   出願人：オムロン株式会社