特許
J-GLOBAL ID:200903008053728894

連続物体の欠陥検出用信号処理装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高野 茂
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-023911
公開番号(公開出願番号):特開2000-222570
出願日: 1999年02月01日
公開日(公表日): 2000年08月11日
要約:
【要約】【課題】 エッジ部の汚れ等の検出によるライン停止を防止することにより、生産性を向上させることが可能な欠陥検出用信号処理装置を提供する。【解決手段】 1次元の視野を有する撮像装置を用いて検出された映像信号を信号処理することにより、連続物体の欠陥を検出するための信号を出力する連続物体の欠陥検出用信号処理装置において、連続物体の幅方向の画像を検出し映像信号に変換する1次元撮像装置11と、この映像信号から前記連続物体のエッジを検出するエッジ検出手段16と、前記エッジの位置から所定の位置までのゲインを板幅の中央の部分のゲインと異なる値に設定するゲイン設定手段32、40とを備えている連続物体の欠陥検出用信号処理装置。
請求項(抜粋):
1次元の視野を有する撮像装置を用いて検出された映像信号を信号処理することにより、連続物体の欠陥を検出するための信号を出力する連続物体の欠陥検出用信号処理装置において、連続物体の幅方向の画像を検出し映像信号に変換する1次元撮像装置と、この映像信号から前記連続物体のエッジを検出するエッジ検出手段と、前記エッジの位置から所定の位置までのゲインを、板幅の中央の部分のゲインと異なる値に設定するゲイン設定手段と、を備えていることを特徴とする連続物体の欠陥検出用信号処理装置。
Fターム (7件):
5B057AA04 ,  5B057BA28 ,  5B057DA08 ,  5B057DA17 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16
引用特許:
出願人引用 (6件)
  • 特開昭55-119047
  • 特開平3-134548
  • 画像処理方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-156724   出願人:川崎製鉄株式会社
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審査官引用 (3件)
  • 特開昭55-119047
  • 特開平3-134548
  • 画像処理方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-156724   出願人:川崎製鉄株式会社

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