特許
J-GLOBAL ID：200903008117943816
磁気ディスク検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
梶山 佶是 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-181993
公開番号（公開出願番号）：特開平6-162496
出願日： 1993年06月28日
公開日（公表日）： 1994年06月10日
要約：
【要約】【目的】 高密度記録の磁気ディスクを効率よくテストすることができる磁気ディスクの検査装置を提供することにある。【構成】 この発明の磁気ディスク検査装置は、バーニッシュやグライドテストのいずれかのヘッドとサーティファイテストを行うヘッドとをヘッドを移動させる方向に対して直角な方向に並べて取付けたヘッド移動機構を2つ備えていて、ヘッド切換えのための各ヘッドの移動をヘッド移動機構側ではなしに、スピンドル側をヘッドの移動方向に対して直角に移動させることで行うようにしたものである。
請求項（抜粋）：
磁気ディスクが装着されるスピンドルと、バーニッシュヘッド及びグライドテストヘッドの一方と第1のサーティファイテストヘッドとがこれらヘッドを移動させる方向に対して直角な方向に並べられた第1のヘッド移動機構と、前記バーニッシュヘッド及び前記グライドテストヘッドの他方と第2のサーティファイテストヘッドとがこれらヘッドを移動させる方向に対して直角な方向に並べられた第2のヘッド移動機構と、とを備えていて、前記一方のヘッド及び前記他方のヘッドから前記第1及び第2のサーティファイテストヘッドへヘッド切替を行うものであって、前記ヘッド切替を前記各ヘッドの移動方向に対して直角な方向に前記スピンドル側を移動させることにより行う磁気ディスク検査装置。
IPC (2件)：
引用特許：
前のページに戻る
