特許
J-GLOBAL ID:200903008169727399

測量機器の自動焦点装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三浦 邦夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-059659
公開番号(公開出願番号):特開平9-304052
出願日: 1997年03月13日
公開日(公表日): 1997年11月28日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】主要物体に対して確実に合焦する測量機器の自動焦点装置を提供する。【解決手段】望遠光学系によって形成される物体像を受光する一対のCCDラインセンサおよびこのCCDラインセンサに隣接して設けられた、CCDラインセンサの受光光量をモニターする3個のモニターセンサ、CCDラインセンサが出力するAFセンサデータに基づいてデフォーカスを算出する演算・制御回路を備え、演算・制御回路は、3個のモニタセンサすべてを使用してCCDラインセンサの受光時間を制御し、受光時間制御によって得られたAFセンサデータに基づいて、視野の中央を中心として左右対称に広がる中央領域のコントラストを検出し、コントラストが所定値以下のときには、中央のモニターセンサを使用してCCDラインセンサの受光時間を制御する。
請求項(抜粋):
望遠光学系によって形成される物体像を受光する複数の受光手段を備えたラインセンサ;このラインセンサに近接して配置され、ラインセンサの受光光量をモニタする複数のモニタ手段;および、前記全モニタ手段によって前記ラインセンサの受光時間を制御し、このときの各受光手段からの出力に基づいて焦点状態を検出する焦点検出手段;を備え、前記焦点検出手段が有効な焦点状態を検出できなかったときは、前記モニタ手段の内、最も中央に位置するモニタ手段のみによって前記ラインセンサの受光時間を制御すること、を特徴とする自動焦点装置。
IPC (5件):
G01C 1/02 ,  G01C 3/06 ,  G01C 5/00 ,  G02B 7/28 ,  G03B 13/36
FI (6件):
G01C 1/02 Z ,  G01C 3/06 P ,  G01C 5/00 T ,  G02B 7/11 N ,  G02B 7/11 H ,  G03B 3/00 A
引用特許:
出願人引用 (2件)

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