特許

J-GLOBAL ID：200903008233515210

プリント基板検査装置

発明者： 橋爪 茂
出願人/特許権者： 太洋工業株式会社
代理人 (1件)： 杉本 勝徳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-162955
公開番号（公開出願番号）：特開平11-017399
出願日： 1997年06月19日
公開日（公表日）： 1999年01月22日
要約：

【要約】【課題】 プリント基板の検査装置に関し、特には、検査治具と基板の間における相対的な位置ずれを補正するときに、位置ずれを計測した状態から基板が微動だにしない構造の装置を提供すること。【解決手段】 位置ずれの補正をするときは、主プレス6を作動させて、下部検査治具2Bを降ろして上下の検査プローブピンが基板から離れた状態にする。このとき、エアーシリンダー9A、9Bと加圧ピン33A、34Bによって保護板3A、3Bは基板4を上下から挟んだ状態であるので、基板4がずれたり撓んだりすることは防止される。

請求項（抜粋）：

基板に形成された配線パターンに電気的に接触しうる検査電極が多数配設された治具を基板に押し当てる治具プレス手段と、治具の検査電極を介して基板に形成された配線パターンの導通/非導通の検査を行う電気的検査手段と、検査プローブピンと配線パターンとを相対的に微動させる微動手段と、を備えたプリント基板検査装置において、治具と基板との間に介装され検査電極回りに隙間が形成された第1保護板と、基板を第1保護板とで挟み得る位置に配設された第2保護板と、基板の検査時においては、第1保護板と第2保護板とで基板を挟持し、非検査時においては、第1保護板と第2保護板を開いて基板を開放する保護板開閉手段とを備え、配線パターンの導通/非導通の検査時には、保護板開閉手段によって第1保護板と第2保護板を閉じて基板を挟持するとともに、治具プレス手段によって治具と基板とを近接させた状態で、検査電極を基板の配線パターンに接触させて電気的検査手段で検査し、位置ずれ修正時には、保護板開閉手段によって第1保護板と第2保護板を閉じて基板を挟持したままで、治具プレス手段によって治具と基板とを離間させて検査電極を基板の配線パターンから離した状態で、微動手段によって位置ズレを修正し、非検査時には、保護板開閉手段によって第1保護板と第2保護板を開くとともに、治具プレス手段によって治具と基板とを離間させて検査電極を基板の配線パターンから離すように構成されていることを特徴とするプリント基板検査装置。

IPC (2件)：

H05K 13/08 ,  G01R 31/02

FI (2件)：

H05K 13/08 C ,  G01R 31/02

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭63-302377
  
• プリント基板検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-244989   出願人：太洋工業株式会社