特許
J-GLOBAL ID：200903008240416324
計測装置及び計測方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
大塚 康徳
, 高柳 司郎
, 大塚 康弘
, 木村 秀二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-290380
公開番号（公開出願番号）：特開2006-105684
出願日： 2004年10月01日
公開日（公表日）： 2006年04月20日
要約：
【課題】 被測定物近傍の物理量を効果的に計測することができる計測装置及び計測方法を提供すること。【解決手段】 計測装置は、被測定物101近傍の物理量の3次元空間における分布を計測する物理量センサ102と、物理量センサ102による計測結果と被測定物101の形状データとを前記3次元空間における位置が略一致するように重ね合わせて表示する表示部105と、を備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被測定物近傍の物理量の3次元空間における分布を計測する物理量センサと、
前記物理量センサによる計測結果と前記被測定物の形状データとを前記3次元空間における位置が略一致するように重ね合わせて表示する表示部と、
を備えることを特徴とする計測装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01R29/08 D
, G01R29/08 F
