特許

J-GLOBAL ID：200903044591485566

磁界プロ-ブ校正機能を有する近傍磁界測定装置および電磁波発生源探査装置

発明者： 新保 健一 ,  上坂 晃一 ,  須賀 卓 ,  林 良彦
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-016243
公開番号（公開出願番号）：特開2000-214198
出願日： 1999年01月25日
公開日（公表日）： 2000年08月04日
要約：

【要約】【課題】被測定装置の近傍磁界をxyz方向についてそれぞれ高精度に測定することのできる近傍磁界測定装置を提供する。【解決手段】磁界プローブ4を被測定対象の近傍で移動させるための移動部19と、磁界検出部6と、磁界プローブ4の指向性が最大の方向を検出すべき磁界の方向に向けるための校正をおこなう校正部とを有する。校正部は、磁界プローブの向きを変化させるプローブ変位部27と、校正用磁界発生部5と、プローブ変位部の動作を制御する制御部7とを備える。制御部7は、プローブ変位部27を動作させて校正用磁界内で磁界プローブ4の向きを変化させ、そのときの前記磁界検出部6の出力から磁界プローブ4の指向性の向きを検出する。

請求項（抜粋）：

磁界プローブを保持する保持部と、前記磁界プローブを被測定対象の近傍で移動させるための移動部と、前記磁界プローブの出力から磁界強度を検出する磁界検出部と、前記磁界プローブの指向性が最大の方向を検出すべき磁界の方向に向けるための校正をおこなう校正部とを有し、前記校正部は、前記磁界プローブの向きを変化させるために、前記保持部を変位させるプローブ変位部と、前記予め定めた方向の校正用磁界を発生する校正用磁界発生部と、前記プローブ変位部の動作を制御する制御部とを備え、前記制御部は、前記プローブ変位部を変位させて前記校正用磁界内で前記磁界プローブの向きを変化させ、そのときの前記磁界検出部の出力から前記磁界プローブの指向性の向きを検出することを特徴とする近傍磁界測定装置。

IPC (2件)：

G01R 29/08 ,  G01R 33/02

FI (2件)：

G01R 29/08 D ,  G01R 33/02 A

Fターム (5件)：

2G017AA02 ,  2G017AA03 ,  2G017AD04 ,  2G017AD07 ,  2G017BA18

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 近磁界プローブによる電磁ノイズ測定装置。
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-039797   出願人：株式会社リコー