特許

J-GLOBAL ID：200903008348824593

金属帯の光学式欠陥検査方法

発明者： 戸村 寧男
出願人/特許権者： JFEスチール株式会社
代理人 (3件)： 高矢 諭 ,  松山 圭佑 ,  牧野 剛博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-087548
公開番号（公開出願番号）：特開2005-274325
出願日： 2004年03月24日
公開日（公表日）： 2005年10月06日
要約：

【課題】2次元撮像手段を使用して、同一の検出角度で金属帯の表面欠陥を検査できるようにする。【解決手段】長手方向に搬送される鋼板Sから、2次元CCDカメラにより検査画像を入力し、該画像に基づいて表面欠陥を検査する際、前記2次元CCDカメラを、受光部10Aにおける画素列の走査方向が、前記鋼板Sの幅方向に実質的に一致するように、該金鋼板Sに対向配置すると共に、経時的に異なる2以上の時刻t1〜tnにおいて前記金属帯上の特定位置m’を走査して得た画像を合成して、前記金属帯上の特定位置m’の検査画像を作成する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

長手方向に搬送される金属帯から、2次元撮像手段により検査画像を入力し、該画像に基づいて表面欠陥を検査する金属帯の光学式欠陥検査方法において、 前記2次元撮像手段を、画素列の走査方向が、前記金属帯の幅方向に実質的に一致するように、該金属帯に対向配置すると共に、 経時的に異なる2以上の時刻において前記金属帯上の特定位置を走査して得た画像を合成して、前記金属帯上の特定位置の検査画像を作成することを特徴とする金属帯の光学式欠陥検査方法。

IPC (1件)：

G01N21/892

FI (1件)：

G01N21/892 B

Fターム (11件)：

2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051BB01 ,  2G051BB05 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA04 ,  2G051EA19 ,  2G051ED01

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 表面欠陥検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-316354   出願人：川崎製鉄株式会社