特許
J-GLOBAL ID:200903008352998369

複数枚の画像の各計測点の対応づけ方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西脇 民雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-151221
公開番号(公開出願番号):特開平9-329440
出願日: 1996年06月12日
公開日(公表日): 1997年12月22日
要約:
【要約】【課題】個人差による誤差を除去して計測精度の向上、計測処理の迅速化、容易化、自動化を図ることのできる複数枚の画像の各計測点の対応づけ方法を提供する。【解決手段】この複数枚の画像の各計測点の対応づけ方法は、計測対象物14に点在した大型マークK0と小型マークSKとを異なる方向から複数枚撮影し、大型マークK0の概略位置に基づき画像の切り出しを行い、この切り出した画像での小型マークSKを計測点とみなして、テンプレートマッチング法により各計測点の対応づけを自動的に行う。
請求項(抜粋):
計測対象物に点在した大型マークと小型マークとを異なる方向から複数枚撮影し、大型マークの概略位置に基づき画像の切り出しを行い、この切り出した画像での小型マークを計測点とみなして、テンプレートマッチング法により各計測点の対応づけを自動的に行う複数枚の画像の各計測点の対応づけ方法。
IPC (3件):
G01C 11/04 ,  G01B 11/00 ,  G06T 7/00
FI (3件):
G01C 11/04 ,  G01B 11/00 A ,  G06F 15/62 415
引用特許:
出願人引用 (5件)
全件表示
審査官引用 (1件)

前のページに戻る