ステンレス鋼のすきま腐食発生の時間的評価方法

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：内藤俊太 , 田中久喬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-140569
公開番号（公開出願番号）：特開2008-292408
出願日： 2007年05月28日
公開日（公表日）： 2008年12月04日
要約：

【課題】ハロゲン化物イオン、海水に含まれる生化学的成分または塩類等を含む水溶液環境中で使用される機器用のステンレス鋼に発生するすきま腐食損傷を、未然に防止もしくは適正なステンレス鋼を選定するための、ステンレス鋼のすきま腐食発生時間の評価方法を提供する。【解決手段】ハロゲン化物イオンまたは海水に含まれる生化学的成分もしくは水溶性塩類を含む水溶液環境中に、ステンレス鋼の表面どうしを向かい合わせて、間隔0.5mm未満のすきま部を設けた、すきま付き試験片と、前記ステンレス鋼の自由表面のみからなる、すきまなし試験片をそれぞれ水溶液環境中に浸漬し、外部電源によって、それぞれの試験片に同一の電位を印加した時点から、それぞれの試験片に生じる電流密度の差分値の時間的変化から、すきま腐食発生時間を決定することを特徴とする、ステンレス鋼のすきま腐食発生の時間評価方法。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

ハロゲン化物イオンまたは海水に含まれる生化学的成分もしくは水溶性塩類を含む水溶液環境中に、ステンレス鋼の表面どうしを向かい合わせて近づけ、互いに、その表面の一部を接触させた状態で形成される、間隔0.5mm未満のすきま部を設けた、すきま付き試験片と、前記ステンレス鋼の自由表面のみからなる、すきまなし試験片をそれぞれ前記水溶液環境中に浸漬し、外部電源によって、それぞれの試験片に同一の電位を印加した時点から、それぞれの試験片に生じる電流値を、それぞれの試験片の前記すきま部に面する表面を除いた自由表面の面積で除して求まる電流密度の時間的変化を測定し、前記すきま付き試験片の電流密度から前記すきまなし試験片の電流密度を引いて求めた電流密度の差分値の時間的変化から、すきま腐食発生時間を決定することを特徴とする、ステンレス鋼のすきま腐食発生の時間的評価方法。ここで自由表面とは、ステンレス鋼表面から0.5mm以上の間隔を有する自由空間が存在している該ステンレス鋼表面をいう。

IPC (3件)：

G01N 27/26 , G01N 33/20 , G01N 17/02

FI (4件)：

G01N27/26 351K , G01N27/26 351C , G01N33/20 N , G01N17/02

Fターム (11件)：

2G050AA01 , 2G050BA01 , 2G050BA02 , 2G050CA04 , 2G050EA10 , 2G050EB04 , 2G050EB07 , 2G050EC01 , 2G050EC06 , 2G055AA02 , 2G055BA12

引用特許：

出願人引用 (1件)

すきま腐食発生時間の評価方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-239686 出願人：新日本製鐵株式会社

審査官引用 (3件)

特開昭51-147386
すきま腐食の評価方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-138649 出願人：新日本製鐵株式会社
すきま腐食発生時間の評価方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-239686 出願人：新日本製鐵株式会社

引用文献：

審査官引用 (2件)

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