特許
J-GLOBAL ID：200903025468690045
すきま腐食の評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 敬 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-138649
公開番号（公開出願番号）：特開2003-329572
出願日： 2002年05月14日
公開日（公表日）： 2003年11月19日
要約：
【要約】【課題】 ハロゲン化物イオンを含む液状環境を取り扱う機器に使用される金属材料に発生するすきま腐食を評価する方法を提供すること。【解決手段】 ハロゲン化物イオンを含む液状環境中にすきまを人工的に付与した金属材料を浸漬し、外部の定電位電源により金属材料に一定の電位を一定時間の間印加し、顕微鏡を用いてすきま腐食深さの最大値を測定する、すきま腐食進展性の評価方法。最大すきま腐食深さを種々の時間に対して両対数プロットし、得られた直線関係を所用板厚にまで外挿することによって、板厚貫通時間を推定する。
請求項（抜粋）：
塩化物イオンを含む水溶液環境中にすきま部を人工的に付与した金属材料を浸漬し、外部の定電位電源により金属材料に一定の電位を印加したあと、すきま部に発生した腐食の最大深さを測定することを特徴としたすきま腐食の評価方法。
IPC (2件)：
G01N 17/00
, G01N 27/26 351
G01N 17/00
, G01N 27/26 351 K
2G050AA01
, 2G050CA04
, 2G050EA10
, 2G050EB07
, 2G050EC05
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (7件)
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