特許

J-GLOBAL ID：200903008485391319

テストベクタ編集装置

発明者： 高橋 俊裕
出願人/特許権者： 株式会社リコー
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-237368
公開番号（公開出願番号）：特開平8-101257
出願日： 1994年09月30日
公開日（公表日）： 1996年04月16日
要約：

【要約】【目的】 半導体回路装置の試験のための静止時電源電流テストベクタを的確かつ迅速に得る。【構成】 テストベクタ列(テストパタ-ン)を格納する手段と、テストベクタを順次取り出す手段と、取り出されたテストベクタが、プルアップまたはプルダウンが付いている外部入力によって電流が流れることが無い静止状態を実現できるかの判断によって、静止時電源電流に使用できるテストベクタを抽出する手段と、抽出された静止時電源電流測定に使用できるベクタのみを記憶する手段と、記憶されたテストベクタの内容を印字又は表示する手段とを備えたテストベクタ編集装置において、前記抽出する手段は、テストベクタ列のX値については、実際の論理値があらかじめ設定した確率で1または0であるとみなして、前記静止状態を実現できるかどうかを判断することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

半導体回路装置の試験のためのテストベクタ列(テストパタ-ン)を格納する手段と、前記格納する手段から、テストベクタを順次取り出す手段と、取り出されたテストベクタが、プルアップまたはプルダウンが付いている外部入力によって電流が流れることが無い静止状態を実現できるかどうかの判断によって、静止時電源電流測定に使用できるテストベクタを抽出する手段と、抽出された静止時電源電流測定に使用できるテストベクタのみを記憶する手段と、記憶されたベクタの内容を印字または表示する手段と、を備えたテストベクタ編集装置において前記抽出する手段は、テストベクタ列のX値については、実際の論理値があらかじめ設定した確率で1または0のいずれであるとみなして、前記静止状態を実現できるかどうかを判断することを特徴とするテストベクタ編集装置。

IPC (2件)：

G01R 31/3183 ,  G06F 17/50

FI (2件)：

G01R 31/28 Q ,  G06F 15/60 670

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 集積回路のテスト方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-265980   出願人：松下電器産業株式会社
• 半導体装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-221624   出願人：セイコーエプソン株式会社
• 特開昭63-037268