特許
J-GLOBAL ID:200903008692844587

3次元計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 久保 幸雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-142830
公開番号(公開出願番号):特開平9-325010
出願日: 1996年06月05日
公開日(公表日): 1997年12月16日
要約:
【要約】【課題】受光条件の設定の精度を確保しつつ、周期的に計測を行う場合の周期を短縮する。【解決手段】検出光を照射して物体を光学的に走査するための投光手段と、前記物体で反射した前記検出光を受光する撮像手段とを有し、光投影法によって物体形状を計測する3次元計測装置に、周期的に計測する連続計測モードにおいて、2回目以降の計測の受光条件をその1回前の計測時に前記撮像手段によって得られた撮像情報に基づいて設定する制御手段を設ける。
請求項(抜粋):
検出光を照射して物体を光学的に走査するための投光手段と、前記物体で反射した前記検出光を受光する撮像手段とを有し、光投影法によって物体形状を計測する3次元計測装置であって、周期的に計測する連続計測モードが設けられ、連続計測モードにおいて、2回目以降の計測の受光条件を、その1回前の計測時に前記撮像手段によって得られた撮像情報に基づいて設定する制御手段を有していることを特徴とする3次元計測装置。
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開昭64-021581
  • 3次元形状入力装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-132998   出願人:ミノルタ株式会社
  • 3次元形状測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-320245   出願人:ミノルタ株式会社
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