測光装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小谷悦司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-129052
公開番号（公開出願番号）：特開2001-311664
出願日： 2000年04月28日
公開日（公表日）： 2001年11月09日
要約：

【要約】【課題】測定光の強度変化が比較的大きい場合でも、光電変換素子を用いて高分解能で光強度が測定できる。【解決手段】輝度分布発生部30により測定光3に異なる強度分布を発生させ、この異なる強度分布の光を撮像部(エリアセンサ)60の複数の光電変換素子61,61,...によりそれぞれ受光する。そして、画像処理部70により、所定レベルの受光信号を出力する光電変換素子61を抽出し、抽出された光電変換素子61から出力される受光信号を用いて分光強度を求める。

請求項（抜粋）：

測定光が入射するスリット形状の開口を有する板状の光線規制手段と、入射する測定光の光強度を上記開口の長さ方向に異なる強度に分布させて射出する輝度分布発生手段と、受光した光強度に応じた受光信号を出力する複数の光電変換素子が少なくとも1列に配列されてなり、各光電変換素子が上記輝度分布発生手段によって発生する異なる強度の測定光をそれぞれ受光するように配置された撮像手段と、上記撮像手段の各光電変換素子のうちで所定レベルの受光信号を出力する少なくとも1つの光電変換素子を抽出し、抽出された光電変換素子から出力される受光信号を用いて所定の演算処理を行うことにより、上記測定光の所定の特性を求める演算処理手段とを備えたことを特徴とする測光装置。

IPC (5件)：

G01J 3/36 , G01J 1/42 , G01J 1/44 , G01J 3/02 , G01J 3/18

FI (5件)：

G01J 3/36 , G01J 1/42 K , G01J 1/44 F , G01J 3/02 C , G01J 3/18

Fターム (38件)：

2G020AA04 , 2G020BA03 , 2G020CA01 , 2G020CA03 , 2G020CB02 , 2G020CB04 , 2G020CC05 , 2G020CC43 , 2G020CC46 , 2G020CC56 , 2G020CC65 , 2G020CD06 , 2G020CD24 , 2G020CD32 , 2G020CD38 , 2G065AA02 , 2G065AB02 , 2G065AB04 , 2G065AB05 , 2G065AB22 , 2G065AB23 , 2G065BA05 , 2G065BA06 , 2G065BA09 , 2G065BB05 , 2G065BB06 , 2G065BB15 , 2G065BB20 , 2G065BB28 , 2G065BB46 , 2G065BC11 , 2G065BC13 , 2G065BC18 , 2G065BC28 , 2G065BC33 , 2G065BC35 , 2G065DA01 , 2G065DA20

引用特許：

出願人引用 (10件)

特開昭59-174724
分光光度計
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-280244 出願人：株式会社島津製作所
ゲイン切替機能付放射計
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-000379 出願人：日本電気株式会社

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審査官引用 (11件)

特開昭59-174724
特開昭59-174724
分光光度計
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-280244 出願人：株式会社島津製作所

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