物体の幾何学パラメータを測定および計算する装置および方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山本秀策
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-525355
公開番号（公開出願番号）：特表平10-506180
出願日： 1995年04月05日
公開日（公表日）： 1998年06月16日
要約：

【要約】本記述は、物体(100)の幾何学パラメータを測定および計算する装置および方法に関する。装置は、ベースボディ(10)、該物体(100)を支持する移動および回転が可能な支持装置(12)、少なくとも2つの可動光学エリア測定センサ(14、16)、該エリア測定センサ(14、16)に割り当てられた少なくとも2つの照明装置(18、20)、該移動および回転が可能な支持装置(12)および該可動光学エリア測定センサ(14、16)に割り当てられた移動および角度検出器(22、24、26、28)、該エリア測定センサ(14、16)に接続し得るモニタ(32)、該移動および角度検出器(22、24、26、28)および該光学エリア測定センサ(14、16)またはモニタ(32)に接続し、データ入力装置(34)を有するコンピュータ(30)、および該支持装置(12)および該エリア測定センサ(14、16)のための制御可能な移動および回転装置(36、38、40、42)を備え、該エリア測定センサ(14、16)の光軸(44、46)は互いに直角におよび該支持装置(12)の回転軸(50)に直角におよび/または平行に調整される。第1のエリア測定センサ(14)が透過光測定センサとして、該支持装置(12)の該回転軸(50)に垂直に移動し得る第1のスライド(52)上に配置される。少なくとも1つの第2のエリア測定センサ(16)が入射光測定センサとして第2の可動スライド(54)上に配置される。該第2のスライド(54)は、該第1のスライド(52)上に保持され、また該支持装置の該回転軸(50)に対しておよび該第1のスライド(52)の移動方向に対して垂直方向に移動し得る。該支持装置(12)および該第1のスライド(52)は、該支持装置(12)の該回転軸(50)に対して長さ方向に互いに対して移動し得る。

請求項（抜粋）：

物体(100)の幾何学パラメータを測定および計算する装置であって、ベースボディ(10)、該物体(100)のための移動および回転が可能な支持装置(12)、少なくとも2つの可動光学エリア測定センサ(14、16)、該エリア測定センサ(14、16)に割り当てられた少なくとも2つの照明装置(18、20)、該移動および回転が可能な支持装置(12)および該可動光学エリア測定センサ(14、16)に割り当てられた移動および角度検出器(22、24、26、28)、該エリア測定センサ(14、16)に接続し得るモニタ(32)、該移動および角度検出器(22、24、26、28)に接続し、該光学エリア測定センサ(14、16)またはモニタ(32)に接続し、データ入力装置(34)を有するコンピュータ(30)、および該支持装置(12)および該エリア測定センサ(14、16)のための制御可能な移動および回転装置(36、38、40、42)を備え、該エリア測定センサ(14、16)の光軸(44、46)は互いに直角におよび該支持装置(12)の回転軸(50)に直角におよび/または平行に調整される装置であって、第1のエリア測定センサ(14)は透過光測定センサとして、該支持装置(12)の該回転軸(50)に垂直に移動し得る第1のスライド(52)上に配置され、少なくとも1つの第2のエリア測定センサ(16)は入射光測定センサとして第2の可動スライド(54)上に配置され、該第2のスライド(54)は、該第1のスライド(52)上に保持され、また該支持装置の該回転軸(50)に対しておよび該第1のスライド(52)の移動方向に対して垂直方向に移動し得、そして、該支持装置(12)および該第1のスライド(52)は該支持装置(12)の該回転軸(50)に対して長さ方向に互いに対して移動し得る、装置。

引用特許：

出願人引用 (3件)

物体の断面形状測定方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-102006 出願人：株式会社ブリヂストン
特開平2-206709
特開昭63-098503

前のページに戻る