特許
J-GLOBAL ID：200903009389695613
テストポートを備えた光スイッチ
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
奥山 尚一 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-113365
公開番号（公開出願番号）：特開2000-321512
出願日： 2000年04月14日
公開日（公表日）： 2000年11月24日
要約：
【要約】【課題】光スイッチの性能を正確かつ経済的にテストし、較正し、モニタするシステム及び方法の提供。【解決手段】複数の交差する光路(14,16,18,22,24,26,28,32)と、複数の交差点スイッチ素子(12)と、2つの光路の前記交差点の第2の側に前記交差点スイッチ素子を配置することによって構成された、コアマトリックス(11)に追加されるテスト行(60)及びテスト列(50)を構成する複数の第2のタイプの光スイッチポイント(55)と、テスト行及びテスト列に光学的に結合されたテスト入力(56)及びテスト出力(57)とを含む光スイッチ(70)を提供する。
請求項（抜粋）：
複数の交差する光路と、複数の交差点スイッチ素子と、ここで、前記複数の交差点スイッチ素子のそれぞれが、前記光路のうちの2つの交差点に関連しており、前記各交差点スイッチ素子と2つの光路の各前記交差点は、光スイッチポイントを含み、前記複数の交差点スイッチ素子のそれぞれが、2つの光路の前記交差点の第1の側に配置されて、第1のタイプの光スイッチポイントが構成されることになり、前記複数の第1のタイプの光スイッチポイントによって、前記交差点スイッチ素子が反射状態の場合、前記第1のタイプの光スイッチポイントのそれぞれに入射する光を反射可能にするコアマトリックスが構成されることになり、前記コアマトリックスは複数の行及び複数の列を含み、前記第2のタイプの光スイッチポイントは2つの光路の前記交差点の第2の側に前記交差点スイッチ素子を配置することによって構成されており、コアマトリックスに追加されるテスト行及びテスト列を構成する複数の第2のタイプの光スイッチポイントと、前記テスト行及び前記テスト列に光学的に結合されたテスト入力及びテスト出力と、を含む光スイッチ。
引用特許：
引用文献：
前のページに戻る
