検品装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：金田暢之 , 伊藤克博 , 石橋政幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-254267
公開番号（公開出願番号）：特開2004-094556
出願日： 2002年08月30日
公開日（公表日）： 2004年03月25日
要約：

【課題】物品に貼付された非接触型ICラベルに書き込まれた物品に関する情報を読み出し、この読み出した情報を用いて物品の検品を行う検品装置であって、非接触型ICラベルが物品のどの面に貼付されている場合であっても正確に検品を行う。【解決手段】比較的簡易な構造を有するゲート10aにて物品2に貼付された非接触型ICラベル1からの読み出しを行い、非接触型ICラベル1から情報が読み出されなかった場合のみ、回転テーブル50と、その回転テーブル50を取り囲むように設けられた複数のリーダ/ライタ11b-1〜11b-8が取り付けられたゲート10bとによって、物品2に貼付された非接触型ICラベル1に書き込まれた情報が読み出される構成とする。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

物品に組み込まれ、非接触状態にて情報の読み出しが可能なRF-IDメディアに書き込まれた前記物品に関する情報を読み出し、該情報を用いて検品を行う検品装置であって、前記物品が搭載される平面を具備し、該平面を回転面として回転する回転テーブルと、前記回転テーブルに対向して設けられ、前記回転テーブルに搭載された物品に組み込まれたRF-IDメディアから当該物品に関する情報を非接触状態にて読み出す少なくとも1つの情報読取手段とを有することを特徴とする検品装置。

IPC (5件)：

G06K17/00 , B65G61/00 , G01G19/52 , G06K19/00 , G06K19/07

FI (6件)：

G06K17/00 F , G06K17/00 L , B65G61/00 526 , G01G19/52 J , G06K19/00 H , G06K19/00 Q

Fターム (11件)：

2C005MA33 , 2C005MB10 , 2C005TA22 , 5B035BB09 , 5B035BC00 , 5B035CA23 , 5B058CA15 , 5B058KA02 , 5B058KA22 , 5B058KA24 , 5B058YA20

引用特許：

審査官引用 (7件)

多数の物品に付されたデータの一括読み取り方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-333335 出願人：日本ドライケミカル株式会社, マイクロ・トーク・システムズ株式会社
読み取り装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-026333 出願人：沖電気工業株式会社
特開平4-361915

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