特許
J-GLOBAL ID：200903009730191947
におい測定装置
出願人/特許権者：
株式会社島津製作所
株式会社島津製作所 について
代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-256695
公開番号（公開出願番号）：特開2004-093446
出願日： 2002年09月02日
公開日（公表日）： 2004年03月25日
要約：
【課題】1つの未知試料が有するにおいについて客観性の高い評価を行う。【解決手段】m個(ここでは2)個のにおいセンサによる検出出力により形成されるm次元空間内において、n種の基準においを測定した結果による基準においベクトルS1、S2を求めておき、未知試料の測定によって取得された測定点PとベクトルS1、S2との最短距離を探索し、その距離に応じて各標準においに対する類似度の比(寄与割合)を求める。これにより、複数の標準においに対しての未知においの位置付けがより明確になり、異なる装置間での結果の比較も容易になる。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
a)異なる応答特性を有するm(mは2以上の整数)個のにおいセンサと、
b)該m個のにおいセンサの検出出力により形成されるm次元空間において、n(nは2以上の整数)種類の既知の標準においの測定結果により、それぞれ基準においベクトルを作成して保持しておく基準ベクトル取得手段と、
c)前記m次元空間内に未知試料の測定結果による測定点を位置付け、n本の前記基準においベクトルのうちの少なくも2本の基準においベクトルを基準軸としてそれら基準軸に対する前記測定点の相対的な位置関係に基づいて、その未知試料が有する未知においの性質を表現する指標値及び/又は該未知においの強さの程度を表現する指標値を算出する指標値算出手段と、
を備えることを特徴とするにおい測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (4件)：
引用特許：
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