特許
J-GLOBAL ID：200903009830811209
光及び構造の複合解析システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-079266
公開番号（公開出願番号）：特開平6-288864
出願日： 1993年04月06日
公開日（公表日）： 1994年10月18日
要約：
【要約】【目的】光学部品を含む製品の設計において、光学部品を搭載する各種の形状の部材の熱変形により発生する光学部品の位置,傾きの変化を考慮して光学系解析を行う。【構成】構造系データ100をもとに熱・構造解析部101において計算を実行して得られる解析結果102と変形前の光学系のデータ103を取り込み、変換部104で構造系の変形により発生する光学部品のずれ,傾きを計算し、出力として得られる変形後の光学系のデータ105をもとに光学系解析部106で計算を実行し、表示部107で熱・構造解析部101,変換部104,光学系解析部106の結果を表示する。
請求項（抜粋）：
光学装置に搭載された光学部品を載置する部材の形状および材料定数を含む構造系データに基づいて部材の熱変形量を演算する熱および構造解析部と、前記光学装置に搭載した光学部品の位置や光学特性等を収納した光学系データをもとに前記光学部品間を通過する光の軌跡を解析する光学解析部とを備えた光学系の設計システムにおいて、前記熱および構造解析部から出力される解析結果の前記光学系データの初期値に基づいて、前記部材に熱変形を生じた後の前記光学部品の位置を演算する変換部を設けたことを特徴とする光及び構造の複合解析システム。
IPC (3件)：
G01M 11/00
, G01N 25/16
, G06F 15/60 450
