特許
J-GLOBAL ID：200903009912871420

X線画像診断装置

発明者：
鈴木 克己

鈴木 克己 について

, 
池田 重之

池田 重之 について


出願人/特許権者：
株式会社日立メディコ

株式会社日立メディコ について


代理人 (1件)： 松浦 憲三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-372485
公開番号（公開出願番号）：特開2004-201784
出願日： 2002年12月24日
公開日（公表日）： 2004年07月22日
要約：
【課題】X線画像診断装置において、X線画像データに対する暗電流の補正を迅速かつ正確に行う。【解決手段】あらかじめ算出され記憶されている暗電流情報とX線照射直前の暗電流画像データとから暗電流の増加量を算出して暗電流情報を更新し、この暗電流情報を透過X線による画像データから減算して暗電流補正を行うことにより、迅速かつ正確に暗電流補正を行うことができる。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
被検体にX線を照射するX線源と、 前記被検体からの透過X線を画像データとして出力するX線平面検出器と、 前記X線平面検出器から出力される画像データを各画素毎に記憶する画像記憶手段と、 前記画像記憶手段に記憶されている各画素毎の画像データに対して予め各画素毎に記憶されている暗電流情報を減算することにより暗電流補正を施す暗電流補正手段とを有するX線画像診断装置において、 X線非照射時に前記X線平面検出器から出力される画像データを予め定められた時間間隔で暗電流画像データとして取得し各画素毎に記憶する暗電流画像記憶手段と、 前記暗電流画像記憶手段に記憶されている各画素毎の暗電流画像データから暗電流情報を算出し記憶する暗電流情報記憶手段と、 前記暗電流画像記憶手段に記憶されている各画素毎の暗電流画像データと前記暗電流情報記憶手段に記憶されている各画素毎の暗電流情報とから暗電流の増加量を算出する暗電流増加量算出手段と、 前記暗電流増加量算出手段により算出された暗電流の増加量に基づいて前記暗電流量情報記憶手段に記憶されている各画素毎の暗電流情報を更新する暗電流情報更新手段とを備えることを特徴とするX線画像診断装置。
IPC (6件)：
A61B6/00 ,  G01T1/00 ,  G01T1/17 ,  G01T1/20 ,  H04N5/32 ,  H04N5/335
FI (8件)：
A61B6/00 300S ,  A61B6/00 320M ,  G01T1/00 B ,  G01T1/17 E ,  G01T1/20 E ,  H04N5/32 ,  H04N5/335 E ,  H04N5/335 R
Fターム (29件)：
2G088EE01 ,  2G088FF02 ,  2G088GG19 ,  2G088GG20 ,  2G088JJ05 ,  2G088KK32 ,  2G088LL11 ,  2G088LL12 ,  2G088LL17 ,  2G088LL27 ,  4C093AA01 ,  4C093CA06 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FA19 ,  4C093FA32 ,  4C093FA43 ,  4C093FA52 ,  4C093FA59 ,  4C093FC19 ,  4C093FF03 ,  4C093FF06 ,  4C093FF34 ,  5C024AX12 ,  5C024CX33 ,  5C024GX03 ,  5C024GY31 ,  5C024HX29
引用特許：
出願人引用 (6件)
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