受光器および光測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：長谷川芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-108059
公開番号（公開出願番号）：特開2000-298059
出願日： 1999年04月15日
公開日（公表日）： 2000年10月24日
要約：

【要約】【課題】光源からの任意の位置におけるビームパターンの測定を高精度で行える受光器およびこれを備えた光測定装置を提供すること。【解決手段】被測定光のビームパターンを光電変換部20を用いて計測する光測定装置用の受光器2において、被測定光が内部を通過可能であると共に被測定光の入射によってビームパターンに応じた投影像が形成される入射板8と、入射板8を通過した通過光のうち少なくとも主光線Lが入射可能な第1のレンズ12および当該第1のレンズ12を通過した通過光を光電変換部20に入射させる第2のレンズ18を有すると共に、投影像を拡大または縮小させるズーム部10と、を備えることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

被測定光のビームパターンを光電変換部を用いて計測する光測定装置用の受光器において、前記被測定光が内部を通過可能であると共に前記被測定光の入射によって前記ビームパターンに応じた投影像が形成される入射板と、前記入射板を通過した通過光のうち少なくとも主光線が入射可能な第1のレンズおよび当該第1のレンズを通過した前記通過光を前記光電変換部に入射させる第2のレンズを有すると共に、前記投影像を拡大または縮小させるズーム部と、を備えることを特徴とする受光器。

IPC (2件)：

G01J 1/00 , G01J 1/02

FI (3件)：

G01J 1/00 E , G01J 1/02 L , G01J 1/02 M

Fターム (11件)：

2G065AA04 , 2G065AA11 , 2G065AB26 , 2G065BA04 , 2G065BB02 , 2G065BB05 , 2G065BB06 , 2G065BB08 , 2G065BB20 , 2G065BC13 , 2G065BD01

引用特許：

審査官引用 (8件)

特開平2-126130
半球状に散乱あるいは放射された光を高速に測定する装置および方法
公報種別：公表公報出願番号：特願平6-513427 出願人：ブロートリサーチオーガニゼイションインコーポレイテッド
特開平1-202607

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