特許
J-GLOBAL ID：200903010052753750
飛行時間型質量分析計のイオン光学系
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-292699
公開番号（公開出願番号）：特開平11-195398
出願日： 1998年10月15日
公開日（公表日）： 1999年07月21日
要約：
【要約】【課題】飛行時間型質量分析計のイオン光学系において、要求される空間収束条件および時間収束条件を満たす。【解決手段】4つの扇形電場を組み合わせて閉軌道のイオン光学系が構成される。4つの扇形電場はそれぞれ対称面に関して面対称に配置されて、交点Cで交差する閉軌道6が構成される。4つの扇形電場をすべて同一にし、二重対称に配置することにより、空間収束条件および時間収束条件を完全に満たすことのできるイオン光学系が実現できる。
請求項（抜粋）：
試料から発生したイオンを、複数の扇形電場を用い、1つ以上の交点で交差する閉じた軌道に沿って飛行させて質量分析する飛行時間型質量分析計のイオン光学系において、前記複数の扇形電場に、互いに異なる電場が少なくとも2つ以上あるか、または前記複数の扇形電場がすべて同一の電場であることを特徴とする飛行時間型質量分析計のイオン光学系。
IPC (3件)：
H01J 49/06
, G01N 27/62
, H01J 49/40
H01J 49/06
, G01N 27/62 K
, H01J 49/40
