特許
J-GLOBAL ID：200903010141367553

測定装置の測定に関する設定方法、分析システム、データ処理装置、及びアプリケーションプログラム

発明者：
三島 義博

三島 義博 について

, 
屋内 照貴

屋内 照貴 について


出願人/特許権者：
シスメックス株式会社

シスメックス株式会社 について


代理人 (1件)： 西野 卓嗣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-094073
公開番号（公開出願番号）：特開2006-275706
出願日： 2005年03月29日
公開日（公表日）： 2006年10月12日
要約：
【課題】 設定機能の変更を行う場合のアプリケーションプログラムの変更箇所を最小限に抑える測定装置の測定に関する設定方法、分析システム、データ処理装置、及びアプリケーションプログラムを提供する。【解決手段】 アプリケーションプログラムの実行時に、設定データを、設定項目のデータと、設定条件のデータと、設定値のデータとに加工する。設定項目のデータをルートノード、設定条件のデータを中間ノード、設定値のデータをリーフノードとしたデータツリーT1,T2を構成し、このデータツリーT1,T2を用いてアプリケーションプログラム及び測定装置の設定を行う。【選択図】 図11
請求項（抜粋）：
測定装置の測定に関する設定データが格納されたデータベースから、設定データを読み出すステップと、 設定データを、設定項目と、設定条件と、設定値とに加工するステップと、 加工した設定項目と、設定条件と、設定値とを設定項目毎に互いに関係付けるステップと、 設定項目及び設定条件が与えられた場合に、設定項目と、設定条件と、設定値との関係に基づいて、与えられた設定項目及び設定条件に合致する設定値を取得するステップと を有する測定装置の測定に関する設定方法。
IPC (2件)：
G01N 35/00 ,  G06F 9/445
FI (2件)：
G01N35/00 A ,  G06F9/06 610A
Fターム (9件)：
2G058GD00 ,  5B076AA02 ,  5B076DA04 ,  5B076DC04 ,  5B076DC06 ,  5B176AA02 ,  5B176DA04 ,  5B176DC04 ,  5B176DC06
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)
  • 自動分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-165564   出願人：株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社

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