特許

J-GLOBAL ID：200903010212083624

はんだ付部の検査方法及びその装置

発明者： 今井 勝次
出願人/特許権者： トヨタ自動車株式会社
代理人 (1件)： 恩田 博宣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-064802
公開番号（公開出願番号）：特開平10-261084
出願日： 1997年03月18日
公開日（公表日）： 1998年09月29日
要約：

【要約】【課題】画像データの処理を簡略化して且つ、高精度にはんだ付部の外観を検査することのできるはんだ付部の検査方法及びその装置を提供する。【解決手段】多段照明L1〜L5により検査対象となる基板9のはんだフィレット11に順次光照射を行いつつ、同はんだフィレット11を撮像デバイス3にて撮像し、画像処理デバイス4にてこれを画像データとして所要に処理する。コンピュータ5では、この画像データに基づいてはんだフィレット11の上記各照射段に対応した反射光分布を求め、この求めた各反射光分布に基づいてはんだフィレット11の外観形状に対応した稜線を推定し、この推定される稜線に沿った点を含むよう画像データに検査線を設定し、同画像データのうち該設定される検査線に対応したデータに基づいてはんだフィレット11の外観を評価する。

請求項（抜粋）：

多段照明により検査対象となるはんだ付部に順次光照射を行いつつ、同はんだ付部を撮像する工程と、この撮像した画像データに基づいて前記はんだ付部の前記各照射段に対応した反射光分布を求める工程と、この求めた各反射光分布に基づいて前記はんだ付部の外観形状に対応した稜線を推定する工程と、この推定される稜線に沿った点を含むよう前記画像データに検査線を設定する工程と、前記撮像した画像データのうち、この設定される検査線に対応したデータに基づいて前記はんだ付部の外観を評価する工程と、を備えることを特徴とするはんだ付部の検査方法。

IPC (5件)：

G06T 7/00 ,  B23K 1/00 ,  G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  H05K 3/34 512

FI (6件)：

G06F 15/62 405 Z ,  B23K 1/00 A ,  G01B 11/24 K ,  G01N 21/88 F ,  H05K 3/34 512 B ,  G06F 15/70 460 D

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 半田付け検査方法とその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-153951   出願人：松下電器産業株式会社
• 特開平3-218407