特許
J-GLOBAL ID:200903010270411429

印字品質劣化の予測方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 奥山 尚一 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-099572
公開番号(公開出願番号):特開2002-351166
出願日: 2002年04月02日
公開日(公表日): 2002年12月04日
要約:
【要約】【課題】 いつ画像形成装置の印字品質が許容限界を超えて劣化するか、例えば、いつ、システムの構成要素が摩耗し、装置が補償することができるレベルを超えるかを予測する方法および装置を提供する。【解決手段】 画像形成装置(18)において印字品質劣化を予測する方法であって、第1の校正サイクルを実行するステップ(72)と、第2の校正サイクルを実行するステップ(72)とを含み、それぞれの校正サイクルは、少なくとも1つの補正係数を生成して(80)、画像形成装置を動作するのに用いる少なくとも1つの制御パラメータを変更し(82)、画像形成装置が生成する画像特性を所望の画像特性に近づけるステップと、補正係数を記憶するステップ(86)と、第1の校正サイクルからの補正係数および第2の校正サイクルからの補正係数を分析して(88)、補正係数が所望の限界範囲内であるかどうかを判定するステップ(90)とを含む方法。
請求項(抜粋):
画像形成装置において印字品質劣化を予測する方法であって、第1の校正サイクルを実行するステップと、第2の校正サイクルを実行するステップとを含み、それぞれの校正サイクルは、少なくとも1つの補正係数を生成して、前記画像形成装置を動作するのに用いる少なくとも1つの制御パラメータを変更し、前記画像形成装置が生成する画像特性を所望の画像特性に近づけるステップと、前記補正係数を記憶するステップと、前記第1の校正サイクルからの前記補正係数および前記第2の校正サイクルからの前記補正係数を分析して、前記補正係数が所望の限界範囲内であるかどうかを判定するステップとを含む方法。
IPC (5件):
G03G 15/00 303 ,  B41J 29/42 ,  B41J 29/46 ,  G03G 21/00 386 ,  G03G 21/00 510
FI (5件):
G03G 15/00 303 ,  B41J 29/42 F ,  B41J 29/46 B ,  G03G 21/00 386 ,  G03G 21/00 510
Fターム (29件):
2C061AP04 ,  2C061AQ05 ,  2C061AQ06 ,  2C061CQ23 ,  2C061CQ41 ,  2C061HV32 ,  2C061KK13 ,  2C061KK19 ,  2C061KK26 ,  2C061KK28 ,  2C061KK35 ,  2H027DA10 ,  2H027DA13 ,  2H027DA14 ,  2H027DE07 ,  2H027EA01 ,  2H027EA02 ,  2H027EA03 ,  2H027EA05 ,  2H027EA12 ,  2H027EB03 ,  2H027EC03 ,  2H027EC06 ,  2H027EC11 ,  2H027EC20 ,  2H027GB07 ,  2H027HA02 ,  2H027HA10 ,  2H027HB05
引用特許:
審査官引用 (2件)

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