特許

J-GLOBAL ID：200903010331138925

薄膜トランジスタアレイ

発明者： 加藤 剛久 ,  江本 文昭 ,  千田 耕司
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 岩橋 文雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-087018
公開番号（公開出願番号）：特開2001-352072
出願日： 1994年03月28日
公開日（公表日）： 2001年12月21日
要約：

【要約】【課題】 薄膜トランジスタアレイの基板面積を大きくすることなく信号線の断線、短絡および薄膜トランジスタの検査を可能にする。【解決手段】 基板上に、複数の平行な信号線4と、信号線4に電気的に絶縁されて交差する走査線5と、信号線4と走査線5との交差部分において、ソースが信号線4に、ゲートが走査線5にそれぞれ接続されたトランジスタ6が形成されており、信号線4の末端と電源線15との間に容量素子14が挿入接続されている。この容量素子14を一定時間充電した後、信号線4を介してその電位または電流を測定することによって、信号線4の断線、短絡または表示部のトランジスタ6の故障を検査する。

請求項（抜粋）：

複数の平行な信号線、前記信号線に電気的に絶縁されて交差する走査線、ならびに、前記信号線と走査線との交差部分において、ソースが信号線に、ゲートが走査線にそれぞれ接続されたトランジスタが基板上に形成されており、前記各信号線の末端と共通線との間に容量素子が挿入接続された薄膜トランジスタアレイ。

IPC (6件)：

H01L 29/786 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1368 ,  G09F 9/00 352 ,  G09F 9/30 338 ,  H01L 21/3205

FI (6件)：

G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1368 ,  G09F 9/00 352 ,  G09F 9/30 338 ,  H01L 29/78 624 ,  H01L 21/88 Z

引用特許：

審査官引用 (6件)

• 特開平3-002731
  
• アクテイブマトリクス基板の検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-159162   出願人：シヤープ株式会社
• 特開昭62-065018
  
• アレイ基板
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-350196   出願人：株式会社東芝
• 特開平3-002731
  
• 特開昭62-065018