特許

J-GLOBAL ID：200903010472174640

シード生成回路、乱数生成回路、半導体集積回路、ICカード及び情報端末機器

発明者： 藤田 忍 ,  岩村 鉄郎
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (2件)： 松山 允之 ,  日向寺 雅彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-019732
公開番号（公開出願番号）：特開2004-234153
出願日： 2003年01月29日
公開日（公表日）： 2004年08月19日
要約：

【課題】乱数性の高いシードを生成し、かつ小型の集積回路化が可能なシード生成回路及びこれを用いた乱数生成回路、半導体集積回路、ICカード及び情報端末機器を提供することを目的とする。【解決手段】連続的または断続的に発振する発振回路(10)と、前記発振回路から出力されたデジタルデータ列における「0」と「1」との出現頻度を制御して時系列データとして出力する平滑回路(20)と、前記時系列データのうちの複数のビットを用いた演算処理により、1ビットのシードを生成する真性化回路(30)と、を備えたことを特徴とするシード生成回路を提供する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

連続的または断続的に発振する発振回路と、 前記発振回路から出力されたデジタルデータ列における「0」と「1」との出現頻度を制御して時系列データとして出力する平滑回路と、 前記時系列データのうちの複数のビットを用いた演算処理により、1ビットのシードを生成する真性化回路と、 を備えたことを特徴とするシード生成回路。

IPC (2件)：

G06F7/58 ,  G09C1/00

FI (2件)：

G06F7/58 A ,  G09C1/00 650B

Fターム (1件)：

5J104FA04

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平3-204721
  
• 乱数発生方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-008638   出願人：株式会社高度移動通信セキュリティ技術研究所
• 故障判断機能を備えた乱数生成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-082973   出願人：システム工学株式会社, 吉田隆一