特許
J-GLOBAL ID：200903010567493360
測距装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
西川 惠清
, 森 厚夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-030868
公開番号（公開出願番号）：特開2006-214998
出願日： 2005年02月07日
公開日（公表日）： 2006年08月17日
要約：
【課題】計算過程において大きな値を用いることなく位相差を求めることにより処理負荷の軽減を可能とした測距装置を提供する。【解決手段】発光源1は強度変調光を対象空間に投光し、光検出素子2は対象空間からの光を受光する。光検出素子2の受光出力は強度変調光における位相が90度異なるタイミングでサンプリング部3によりサンプリングされ4個の検出値が得られる。演算処理部6は、発光源1から投光した強度変調光と光検出素子2で受光した強度変調光との位相差に相当する値を求める。演算処理部6は、強度変調光の1周期を複数に区切った区間を設定するとともに4個の検出値の関係により位相差の存在する区間を判別する区間判別部7と、区間ごとに設定された区間関数で線形になる関数を近似し区間判別部7で判別した区間に応じた区間関数に検出値を代入して位相差に相当する値を求める演算部8とを備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光の強度が変調された強度変調光を対象空間に投光する発光源と、対象空間からの光を受光し受光光量に応じた受光出力が得られる光検出素子と、光検出素子の受光出力を規定したタイミングでサンプリングすることにより複数個の検出値からなる検出値群を抽出するサンプリング部と、検出値群を所定の関数に代入することにより発光源から投光した強度変調光と光検出素子で受光した強度変調光との位相差に相当する値を求める演算処理部とを備え、演算処理部は、強度変調光の1周期を複数に区切った区間を設定するとともに検出値群である複数個の検出値の関係により位相差の存在する区間を判別する区間判別部と、前記関数を区間ごとに設定した複数個の区間関数で近似し区間判別部で判別した区間に対応する区間関数に検出値群を代入して位相差に一対一対応する関数値を求める演算部とを備えることを特徴とする測距装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (21件)：
5J084AA05
, 5J084AD02
, 5J084BA04
, 5J084BA05
, 5J084BA07
, 5J084BA36
, 5J084BA38
, 5J084BA40
, 5J084BB20
, 5J084CA07
, 5J084CA19
, 5J084CA24
, 5J084CA32
, 5J084CA65
, 5J084CA67
, 5J084DA01
, 5J084DA08
, 5J084DA09
, 5J084EA04
, 5J084EA05
, 5J084EA31
