特許
J-GLOBAL ID：200903015503645966

強度変調光を用いた空間情報の検出装置

発明者：
橋本 裕介

橋本 裕介 について

, 
高田 裕司

高田 裕司 について

, 
栗原 史和

栗原 史和 について


出願人/特許権者：
松下電工株式会社

松下電工株式会社 について


代理人 (2件)： 西川 惠清 ,  森 厚夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-155712
公開番号（公開出願番号）：特開2004-356594
出願日： 2003年05月30日
公開日（公表日）： 2004年12月16日
要約：
【課題】感光部で生成された電荷のうち信号電荷として使用されない残留電荷を廃棄することにより、空間情報を高SN比で検出する。【解決手段】発光源2は所定の変調周波数の変調信号で強度変調された光を空間に照射する。イメージセンサ1に設けた感光部11は、強度変調された光を受光し、受光強度に対応する量の電荷を生成する。制御電極12aに制御電圧を印加して感光部11から電荷蓄積部12への電荷の移動を可能としている状態において、変調信号の周期に同期するタイミングで廃棄電極14aに廃棄電圧を印加して電荷を廃棄することにより、感光部11で生成した電荷のうち必要な電荷のみが電荷蓄積部12に移動する。電荷蓄積部12に蓄積された信号電荷は電荷取出部13を通して評価部5に引き渡され、評価部5において物体Obまでの距離が求められる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
所定の変調周波数の変調信号で強度変調された光が照射されている空間からの光を受光し受光強度に対応する量の電荷を生成する感光部と、感光部で生成した電荷のうち信号電荷を蓄積する電荷蓄積部と、廃棄電極を備え感光部で生成した電荷のうち不要電荷として廃棄する電荷の割合が廃棄電極に印加する廃棄電圧に応じて増減する電荷廃棄部と、電荷蓄積部に蓄積した信号電荷を外部に取り出す電荷取出部と、廃棄電極に印加する廃棄電圧を変調信号の周期に同期するタイミングで変化させる制御回路部と、電荷取出部により取り出した電荷を用いて前記空間に関する情報を評価する評価部とを備えることを特徴とする強度変調光を用いた空間情報の検出装置。
IPC (4件)：
H01L27/148 ,  G01B11/00 ,  G01S17/32 ,  H04N5/335
FI (5件)：
H01L27/14 B ,  G01B11/00 H ,  G01S17/32 ,  H04N5/335 F ,  H04N5/335 Z
Fターム (60件)：
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065BB05 ,  2F065DD04 ,  2F065FF04 ,  2F065FF13 ,  2F065FF32 ,  2F065GG06 ,  2F065GG07 ,  2F065GG15 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ25 ,  2F065JJ26 ,  2F065NN08 ,  2F065NN11 ,  2F065UU02 ,  4M118AA05 ,  4M118AB03 ,  4M118BA12 ,  4M118BA13 ,  4M118BA14 ,  4M118CA03 ,  4M118CA04 ,  4M118CA05 ,  4M118CA07 ,  4M118CA08 ,  4M118DB06 ,  4M118DB08 ,  4M118DB09 ,  4M118DB15 ,  4M118FA06 ,  4M118FA08 ,  4M118FA13 ,  4M118FA16 ,  4M118FA19 ,  4M118FA24 ,  4M118FA26 ,  4M118FA33 ,  4M118FA45 ,  4M118FC03 ,  4M118FC04 ,  4M118GA05 ,  4M118GB03 ,  5C024CY16 ,  5C024GX06 ,  5C024GY01 ,  5C024GZ02 ,  5C024HX15 ,  5J084AA05 ,  5J084AD02 ,  5J084BA04 ,  5J084BA39 ,  5J084BA40 ,  5J084CA07 ,  5J084CA67 ,  5J084DA01 ,  5J084DA08 ,  5J084EA01 ,  5J084EA07
引用特許：
審査官引用 (7件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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