特許
J-GLOBAL ID:200903010687936702
帯状体の表面欠陥検査装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
飯阪 泰雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-062035
公開番号(公開出願番号):特開2007-240290
出願日: 2006年03月08日
公開日(公表日): 2007年09月20日
要約:
【課題】帯状体表面の欠陥を、蛇行しているときにも検出できること、及び欠陥の大きさ、種類、形状も認識できること。【解決手段】ガイドロール(4)(5)に巻装されて走行する磁気テープ(3)に対向して配設されるラインCCDカメラ(6a、6b、6c、6d、6e)と、磁気テープ(3)を照射する光照射手段(9)と、磁気テープ(3)の走行速度を検出するパルス発生器(11)と、ラインCCDカメラの撮像した画像を処理する画像処理手段(7a、7b、7c)とを具備し、画像処理手段(7a、7b、7c)は少なくとも磁気テープ(3)の一方の縁部と表面上の欠陥を認識させ、パルス発生器(11)の出力に基づく磁気テープ(3)の走行方向における欠陥の位置と、縁部から欠陥までの距離とを演算するようにした。 【選択図】図2
請求項(抜粋):
ガイドロールに巻装されて走行する帯状体に対向して配設される撮像手段と、
前記帯状体を照射する光照射手段と、
前記帯状体の走行速度を検出する速度検出手段と、
前記撮像手段の撮像した画像を処理する画像処理手段とを具備し、
前記画像処理手段は少なくとも前記帯状体の一方の縁部と表面上の欠陥を認識させ、
前記速度検出手段の出力に基づく前記帯状体の走行方向における前記欠陥の位置と、前記縁部から前記欠陥までの距離とを演算するようにしたことを特徴とする帯状体の表面欠陥検査装置。
IPC (5件):
G01B 11/30
, G01N 21/892
, G06T 1/00
, G01B 11/00
, G01B 21/00
FI (5件):
G01B11/30 A
, G01N21/892 A
, G06T1/00 300
, G01B11/00 H
, G01B21/00 C
Fターム (50件):
2F065AA02
, 2F065AA03
, 2F065AA07
, 2F065BB13
, 2F065BB15
, 2F065CC00
, 2F065CC02
, 2F065DD06
, 2F065FF64
, 2F065JJ02
, 2F065JJ05
, 2F065JJ09
, 2F065JJ25
, 2F065LL01
, 2F065LL03
, 2F065MM03
, 2F065PP16
, 2F065QQ24
, 2F065QQ37
, 2F065QQ51
, 2F069AA03
, 2F069AA60
, 2F069BB34
, 2F069BB40
, 2F069CC06
, 2F069GG04
, 2F069GG07
, 2F069GG41
, 2F069GG59
, 2F069HH15
, 2G051AA32
, 2G051AB07
, 2G051CA04
, 2G051CA07
, 2G051CB01
, 2G051DA06
, 2G051EA11
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA16
, 2G051ED23
, 5B057AA04
, 5B057BA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057DA03
, 5B057DA07
, 5B057DB02
, 5B057DB09
引用特許:
前のページに戻る